2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著經(jīng)濟發(fā)展和技術的進步,集成電路(Integrated Circuit,IC)產(chǎn)業(yè)取得了突飛猛進的發(fā)展。集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的一個重要環(huán)節(jié),是保證集成電路性能、質量的關鍵環(huán)節(jié)之一。集成電路測試是集成電路產(chǎn)業(yè)的一門支撐技術,而集成電路自動測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)是實現(xiàn)集成電路測試必不可少的工具。
   基于上述考慮,以本課題為研究基礎,開展研制集成電路自動測試設備的工作,擬在

2、集成電路測試產(chǎn)業(yè)中縮短與國外的差距。課題研制的數(shù)字集成電路測試設備能基本上滿足測試數(shù)字集成電路需求,同時又具有操作方便,實用性強,價格相對低廉等特點,這能給中小型的集成電路封裝廠商減少大筆費用。
   本文首先介紹了集成電路自動測試系統(tǒng)的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀,討論了集成電路測試面臨的技術難題,接著介紹了數(shù)字集成電路的測試技術,包括邏輯功能測試技術和直流參數(shù)測試技術。邏輯功能測試技術介紹了測試向量的格式化作為輸入激勵和對輸出結果的采樣;

3、直流參數(shù)測試技術講述了開路短路、輸入漏電流和輸出電壓的測試方法。
   第三、四章是本文的重點章節(jié),詳細講解了自動測試儀的核心部件--數(shù)字集成電路測試板的設計原理。在數(shù)字測試板中,邏輯功能測試分為三個部分:用于存儲測試向量和測試結果的存儲器;基于現(xiàn)場可編輯門陣列(Field
   Programmable Gate Array,F(xiàn)PGA)設計的控制邏輯電路;電子引腳。直流參數(shù)測試中包含有:數(shù)模轉換器;精密測試單元(Pre

4、cision Measurement Unit,PMU);模數(shù)轉換器。第四章節(jié)的末節(jié)還介紹對數(shù)字集成電路測試板中的直流參數(shù)測試單元進行校準的處理過程。
   論文的最后部分,講述了對一款典型的數(shù)字集成電路器件進行測試設計,并得到結果。在設計實驗過程中,該款芯片按照器件手冊書要求基于研制的數(shù)字集成電路自動測試儀上進行邏輯功能測試設計和直流參數(shù)測試設計,邏輯功能測試中選擇自動測試儀的最高測試頻率運行測試向量,再對被測芯片的五個直流參

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