非均勻采樣IP核的設(shè)計(jì)與研究.pdf

1、　　集成電路技術(shù)在近幾十年中得到了長(zhǎng)足的發(fā)展，對(duì)采樣的要求也越來(lái)越高。均勻采樣逐漸不能滿足對(duì)采樣的精度和性能的要求，而且非均勻采樣具備一些均勻采樣所不具備的優(yōu)勢(shì)，尤其是良好的抗混疊性能是均勻采用所不能比擬的，因此對(duì)它的研究具有非常重要的意義。
　　本文從采樣定理展開(kāi)討論，推導(dǎo)了對(duì)非均勻采樣信號(hào)頻譜分析所需要的離散傅里葉變換公式，簡(jiǎn)明的證明了公式并對(duì)公式的精度進(jìn)行了分析。使用推導(dǎo)的公式在MATLAB中對(duì)非均勻采樣信號(hào)的頻率進(jìn)行了

2、檢測(cè)，仿真的結(jié)果也證明了此公式可以對(duì)非均勻采樣信號(hào)進(jìn)行頻率檢測(cè)。
　　分別討論了均勻采樣和非均勻采樣，在對(duì)比中分析了兩種采樣方式各自的優(yōu)勢(shì)。從時(shí)域和頻域的角度討論了非均勻采樣的良好的抗混疊性能，同時(shí)也發(fā)現(xiàn)了非均勻采樣對(duì)小信號(hào)檢測(cè)的缺點(diǎn)，討論了關(guān)于非均勻采樣對(duì)小信號(hào)檢測(cè)的可能性。
　　本文在硬件實(shí)現(xiàn)方面，詳細(xì)論述了模塊的硬件實(shí)現(xiàn)方案，并著重分析了采用現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)技術(shù)控制模塊的實(shí)現(xiàn)方法，分模塊實(shí)現(xiàn)了非均勻