欺騙機制的事件相關(guān)電位研究.pdf

1、欺騙是一個復(fù)雜、動態(tài)的認知過程。欺騙時的腦機制、欺騙與反欺騙一直是神經(jīng)科學(xué)、心理學(xué)等領(lǐng)域研究的熱點問題。本文通過將欺騙過程分為準(zhǔn)備、執(zhí)行和評價反饋三個階段設(shè)計實驗，研究欺騙時的腦機制。利用視覺刺激引導(dǎo)被試做欺騙準(zhǔn)備，執(zhí)行欺騙反應(yīng)，最后給出對欺騙反應(yīng)的評價反饋，記錄腦電數(shù)據(jù)得到事件相關(guān)電位，并對數(shù)據(jù)進行分析處理。主要內(nèi)容如下：
　　1．準(zhǔn)備階段：測量 N2的潛伏期及對峰值進行統(tǒng)計分析，并對N2成分進行LORETA源定位，主要得到如下

2、結(jié)論：欺騙準(zhǔn)備與誠實準(zhǔn)備引發(fā)的N2波幅有顯著差異，欺騙準(zhǔn)備引發(fā)的N2波幅明顯大于誠實反應(yīng)；通過腦電地形圖可以看出N2成分集中在額區(qū)，源定位顯示源在額葉，前扣帶回ACC位置及附近。
　　2．執(zhí)行階段：對欺騙反應(yīng)和誠實反應(yīng)的反應(yīng)時 RT及反應(yīng)正確率進行統(tǒng)計檢驗，結(jié)論如下：反應(yīng)時RT呈顯著差異，反應(yīng)的正確率沒有顯著性差異，但誠實反應(yīng)的平均反應(yīng)正確率要高于欺騙反應(yīng)時的平均反應(yīng)正確率。
　　3．反饋階段：測量欺騙成功（+2）、欺騙失敗