C程序分析與測(cè)試輔助技術(shù)研究.pdf

1、軟件測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過程,是保證軟件質(zhì)量的重要手段,是軟件生命周期的重要階段.軟件測(cè)試已經(jīng)越來越引起軟件用戶及開發(fā)人員的關(guān)注.據(jù)統(tǒng)計(jì),目前在軟件開發(fā)總成本中,用在測(cè)試上的開銷要占30％~50％.測(cè)試本身是一項(xiàng)十分繁重的工作,純粹手工測(cè)試已無法滿足大規(guī)模軟件的需求,越來越多的測(cè)試工作需要測(cè)試工具的支持.在已有的測(cè)試工具中,源代碼測(cè)試工具有著重要的應(yīng)用.而C語言作為一種表達(dá)能力強(qiáng)、目標(biāo)代碼效率高、可移植性好的語言,在軟件開發(fā)中

2、得到普遍使用.該文提出了一整套源代碼自動(dòng)分析測(cè)試的解決方案,討論了一種基于程序插裝的動(dòng)態(tài)測(cè)試框架,分析了C程序流圖的構(gòu)造方法,并在此基礎(chǔ)上給出了程序插裝分析算法,最后描述了嵌入式軟件測(cè)試支撐系統(tǒng)ETS其中單元測(cè)試子系統(tǒng)的ESUT KIT的具體實(shí)現(xiàn).ESUT KIT主要由測(cè)試覆蓋率分析、時(shí)間性能瓶頸分析和內(nèi)存使用分析三個(gè)工具組成.測(cè)試覆蓋率分析是一種結(jié)構(gòu)測(cè)試技術(shù),對(duì)評(píng)估測(cè)試的充分性、確定何時(shí)停止測(cè)試具有很大幫助.時(shí)間性能是一項(xiàng)常用的重要性

3、能指標(biāo),它可以用來跟蹤特定程序段的實(shí)際運(yùn)行情況,是實(shí)時(shí)檢測(cè)的有效手段.為提高軟件的時(shí)間性能,往往需要找出軟件中運(yùn)行時(shí)間較長的程序段,即軟件的時(shí)間性能瓶頸.在C語言中,引入了使用極為靈活的指針機(jī)制,它給程序帶來了很大便利,但同時(shí)也制造了許多的麻煩.由于指針使用不當(dāng)而引起的錯(cuò)誤通常很難發(fā)現(xiàn),定位錯(cuò)誤也很困難,這時(shí)需要專門的工具來檢測(cè)內(nèi)存使用錯(cuò)誤并給予準(zhǔn)確定位.利用ESUT KIT子系統(tǒng),軟件開發(fā)人員和測(cè)試人員可以了解在源代碼級(jí)別上的軟件的質(zhì)