基于變體的并發(fā)程序測試技術(shù)研究.pdf

1、可達性測試是一種重要的并發(fā)程序測試方法，具有在給定輸入下生成并執(zhí)行所有可行同步序列且無需記錄任何歷史信息等諸多優(yōu)勢。但現(xiàn)有可達性測試仍面臨所生成的測試用例集不夠充分，不能有效探測并發(fā)程序中同步錯誤等問題。為提高探測同步錯誤能力，本文提出一種基于拆分的可達性測試方法。該方法對相關(guān)代碼進行拆分，通過生成細粒度的同步交織序列，達到暴露并發(fā)程序中同步錯誤的目的。本文采用程序切片等靜態(tài)分析技術(shù)分析相關(guān)代碼，并提取相關(guān)代碼中的共享變量以及條件同步等

2、信息，在此基礎(chǔ)上提出拆分點選取方法以及拆分點排序方法。
　　本文設(shè)計并實現(xiàn)了基于拆分的并發(fā)程序可達性測試工具（SplitRichTest），并通過實驗與原可達性測試工具(RichTest)以及基于錯誤模式的并發(fā)錯誤預(yù)測工具(Pecan)進行比較，并發(fā)程序中的同步錯誤通過引入并發(fā)變異算子生成一組并發(fā)變體來模擬。實驗結(jié)果表明:(1)SplitRichTest能夠有效解決傳統(tǒng)可達性測試不能有效探測并發(fā)變體類同步錯誤的問題，Pecan的同