激光納米粒度檢測(cè)技術(shù)研究.pdf

1、納米技術(shù)以尺寸在0.1到100納米的材料的性質(zhì)作為研究對(duì)象的一種技術(shù)。由于納米科技是一個(gè)交叉性很強(qiáng)的綜合性學(xué)科，研究?jī)?nèi)容涉及到了極其廣闊的領(lǐng)域，成為諸多學(xué)科新的研究熱點(diǎn)和課題前沿。隨著納米科技的發(fā)展，納米顆粒的檢測(cè)技術(shù)對(duì)于整個(gè)納米科學(xué)及其產(chǎn)業(yè)都有著重要的作用。因此發(fā)展快速、經(jīng)濟(jì)的納米材料檢測(cè)技術(shù)是當(dāng)前納米材料研究和納米產(chǎn)業(yè)發(fā)展的必然要求。
　　動(dòng)態(tài)光散射方法是目前眾多粒徑檢測(cè)方法中使用廣泛的一種的測(cè)量方法。這種方法是通過(guò)對(duì)于散射光

2、進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算，從而得到納米顆粒粒徑信息的。因?yàn)樵谌芤褐屑{米顆粒做布朗運(yùn)動(dòng)，所以必須實(shí)現(xiàn)對(duì)于散射光實(shí)時(shí)的檢測(cè)，從而保證相關(guān)函數(shù)的精度。因此要做到精確地計(jì)算相關(guān)函數(shù)就必須使用高質(zhì)量的芯片，來(lái)滿足精度和計(jì)算速度的要求，而這恰恰也是FPGA技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)所在。
　　作者通過(guò)對(duì)于大量文獻(xiàn)閱讀與總結(jié)，結(jié)合該技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)與目前存在的問(wèn)題，得出本文的主要研究工作如下：
　?。?）運(yùn)用FPGA技術(shù)的高速運(yùn)算特點(diǎn)實(shí)現(xiàn)對(duì)于光子計(jì)數(shù)器和光子相關(guān)器的設(shè)計(jì)