GH4169箔材擴散連接接頭組織與性能研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文研究了GH4169高溫合金加鎳箔中間層的擴散連接,研究了不同焊接熱循環(huán)和熱處理方式對合金晶粒度、相組成的影響。利用光學顯微鏡(OM)、掃描電鏡(SEM)、能譜(EDS)、背散射電子衍射(EBSD)和透射電子顯微鏡(TEM)技術分析了擴散連接溫度、時間和壓力對接頭組織、元素擴散和抗拉強度的影響;分析了不同次數(shù)的焊接熱循環(huán)、固溶處理、δ相時效和γ″相時效熱處理對合金晶粒度及相組成的影響。設計膜盒產品實際件的工裝卡具,密封性測試卡具,對膜

2、盒實際產品進行了擴散連接和性能測試。
  對GH4169高溫合金進行擴散連接試驗,接頭界面由中間層鎳箔和兩側高溫合金變形層組成。接頭在高溫冷卻時受到拉應力作用產生拉伸變形,中間層寬度范圍為12-14μm,變形層寬度范圍為2-8μm。擴散連接接頭附近的元素擴散受到擴散連接溫度、時間和壓力的影響,當擴散連接溫度升高到1150℃時,界面元素擴散充分,Ni元素在固定節(jié)點(0.66-14.13)間的相對質量差由47.6降低到8.81,濃度梯

3、度基本消失。
  研究了擴散連接工藝參數(shù)對接頭組織、元素擴散和力學性能的影響,隨著擴散連接溫度的升高,擴散連接時間的延長和擴散連接壓力的增大,接頭界面孔隙逐漸閉合,界面元素濃度梯度不斷下降,接頭抗拉強度不斷提高。當擴散連接溫度為1100℃,擴散連接時間為60min,擴散連接壓力為30MPa時,接頭抗拉強度達到660MPa。對高溫合金拉伸斷口進行觀察,接頭斷裂位置在靠近界面的中間層中,接頭斷口發(fā)生明顯的塑性變形,斷裂方式為塑性斷裂。

4、
  研究了焊接熱循環(huán)和不同熱處理方式對合金晶粒度及相組成的影響,合金在首次熱循環(huán)中受到鍛造后殘留在基體中的應力影響發(fā)生再結晶,晶粒尺寸由33.13μm下降到26.14μm,隨著熱循環(huán)次數(shù)的增加,第二相和夾雜物向母材不斷溶解,降低了對晶界的釘扎作用,當合金經(jīng)過5次焊接熱循環(huán)后,晶粒尺寸達到48.38μm;采用T=900℃,t=0.5-48h的工藝參數(shù)對合金進行δ相時效,δ相首先在含 Nb夾雜物附近的晶界上析出,并陸續(xù)在晶界和晶內析

5、出。合金晶粒尺寸由55.03μm增大到73.08μm。采用720℃/8h+620℃/8h的工藝參數(shù)對合金進行γ″相時效,在局部區(qū)域中,細小的γ″相呈彌散分布狀態(tài),在較大區(qū)域中,γ″相呈現(xiàn)出一定的偏析特征。γ″相時效時合金晶粒尺寸為30.94μm,小于原始母材晶粒度。
  分析高溫合金膜片在擴散連接時的受力情況,設計膜片內外環(huán)擴散連接的卡具、裝配和定位形式,對膜盒實際產品進行擴散連接。當擴散連接溫度為1100℃,時間為60min,壓

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