基于DSP的高速ADC頻域特性測試技術(shù)研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代化高新科技的不斷推進(jìn)，特別是微電子、計算機(jī)和通信等技術(shù)的快速發(fā)展，模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)技術(shù)也得到了飛速的發(fā)展。作為連接模擬量與數(shù)據(jù)量接口的重要部件，模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)推開了模擬通往現(xiàn)實的大門，開辟了通過計算機(jī)虛擬世界描述真實世界的道路，因此被廣泛地應(yīng)用于無線通訊、雷達(dá)探測、視頻傳輸和軟件無線電等領(lǐng)域，是現(xiàn)代化高新科技和信息化產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要組成部分。在實際的高速ADC應(yīng)用中，由于ADC芯片設(shè)計偏差或受外界因素影響出現(xiàn)工作性能下降

2、，實際的ADC芯片的工作性能無法達(dá)到額定性能，進(jìn)而導(dǎo)致電路系統(tǒng)出現(xiàn)功能故障。因此需要對ADC的性能進(jìn)行測試.
　　本文針對高速ADC的頻域測試技術(shù)進(jìn)行研究，介紹關(guān)鍵的頻域特性參數(shù)和頻域特性測試中會遇到的問題。針對非相干采樣條件下頻域特性測試中DFT/FFT固有的柵欄效應(yīng)和泄漏現(xiàn)象，引出加窗插值的概念，總結(jié)當(dāng)前FFT研究中常見的頻域加窗方法，并且引出一種新的窗函數(shù)描述方法—置零點頻域加窗算法。根據(jù)實際需求，利用置零點頻域加窗算法靈活

3、的設(shè)計一套旁瓣峰值小且衰減快的窗函數(shù)，并對它們進(jìn)行頻域測試和性能分析，研究它們在抑制頻譜泄漏方面相對于傳統(tǒng)窗函數(shù)的優(yōu)勢；針對頻域分析中的柵欄效應(yīng)介紹常見的插值算法，引入窗函數(shù)擬合系數(shù)插值法實現(xiàn)頻譜校正的方法，通過性能分析與傳統(tǒng)的插值算法作比較，展示該方法在高速ADC頻域測試中的優(yōu)勢；并且利用置零點頻域加窗算法設(shè)計的窗函數(shù)結(jié)合窗函數(shù)擬合系數(shù)插值算法實現(xiàn)頻譜校正的方法，解決高速ADC頻域特性測試中對微弱信號進(jìn)行檢測和對頻率進(jìn)行精確估計的問題