基于電磁掃描的高密度電路模塊檢測(cè)技術(shù)研究.pdf

1、高密度電路模塊由于具有頻率高、密度高、可靠性要求高等特性，以及組裝難度大、產(chǎn)品合格率低、返修率高等一系列問(wèn)題，對(duì)傳統(tǒng)的檢測(cè)流程和檢測(cè)手段都提出了新的挑戰(zhàn)。目前針對(duì)高密度電路的組裝質(zhì)量檢測(cè)由于缺乏有效的手段導(dǎo)致檢測(cè)難度大、效率低，而單一檢測(cè)手段費(fèi)時(shí)費(fèi)力，效率低下，難于保證及時(shí)準(zhǔn)確地對(duì)故障點(diǎn)進(jìn)行定位。因此新的檢測(cè)手段以及組合檢測(cè)，正在被越來(lái)越多的學(xué)者關(guān)注和研究。
　　本文主要針對(duì)高密度電路模塊的特點(diǎn)，深入研究了高密度電路的特點(diǎn)以及現(xiàn)代

2、檢測(cè)技術(shù)和檢測(cè)手段，分析了影響高密度電路模塊質(zhì)量檢測(cè)效率的主要因素，建立了高密度電路檢測(cè)框架。本文將新的檢測(cè)手段-電磁掃描技術(shù)引入到高密度電路檢測(cè)中，并研究了電磁掃描技術(shù)在高密度電路檢測(cè)過(guò)程中的關(guān)鍵技術(shù)。本文分析了閾值法和最大互相關(guān)法的優(yōu)缺點(diǎn)，將其應(yīng)用到頻譜對(duì)比中，并設(shè)計(jì)基于關(guān)鍵點(diǎn)的字符串對(duì)比算法，解決了電磁掃描技術(shù)在高密度電路檢測(cè)中的關(guān)鍵問(wèn)題-異常頻率點(diǎn)識(shí)別問(wèn)題。
　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，將電磁掃描技術(shù)引入到高密度電路檢測(cè)中具有很強(qiáng)的