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文檔簡介
1、隨著集成電路設計技術的發(fā)展,其相應的測試也變得十分重要。測試生成為測試過程中的一個重要環(huán)節(jié)。本文首先綜述了當前基于集成電路寄存器傳輸級(Register Transfer Level,簡稱RTL)的測試生成方法和驗證方法。在此基礎上給出作者所提出的RTL測試生成方法,同時考慮到當前RTL測試生成的困難在于缺少有效的故障模型,本文還給出了RTL故障模型分析方法。本文工作主要體現在以下三個方面: 1.兼顧RTL代碼內部分枝的狀態(tài)測試
2、生成。本文在狀態(tài)覆蓋的基礎上,給出一種虛擴展狀態(tài)轉換的方法,該方法將狀態(tài)轉換同其內部分枝有效的結合在一起。在此基礎上再進行狀態(tài)覆蓋測試生成,生成的測試向量可以實現對RTL代碼內部分枝的覆蓋。結合提出的這種方法,選用了部分ITC99-benchmark電路進行了相關實驗,給出了實驗數據和相關分析,與VTG比較,比VTG生成的測試向量要少一半,而覆蓋率平均以后大致相等。 2.基于遺傳算法的時序電路測試向量生成。文中引入遺傳算法,并以
3、狀態(tài)與狀態(tài)轉換為評估。引入靜態(tài)狀態(tài)轉換(圖)及動態(tài)狀態(tài)轉換(圖)的概念。給出了靜態(tài)、動態(tài)狀態(tài)轉換的三個基本屬性。在此方法的基礎上,給出了實驗數據,并將結果X-Pulling系統(tǒng)作比較。比較的結果說明:在覆蓋率相近的情況下,比X-Pulling運行速度快一個數量級。 3.RTL故障模型分析。本文針對RTL故障模型進行分析,分析它與門級固定型故障模型之間的關系;RTL故障模型之間的關系。給出了一些基本概念和定義,依據這些概念和定義又
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