熒光磁粉探傷裂紋目標(biāo)提取方法研究.pdf

1、熒光磁粉探傷是檢驗(yàn)鐵磁性材料表面或近表面缺陷的一種常用手段,由于其在不破壞原材料的條件下,具有檢測(cè)靈敏度高、速度快、檢測(cè)工藝簡單可靠等優(yōu)點(diǎn),從而得到廣泛應(yīng)用。熒光磁粉缺陷圖像檢測(cè)是近幾年興起的一種研究性和實(shí)用性都很強(qiáng)的課題,本文致力于熒光磁粉探傷圖像裂紋目標(biāo)提取方法研究。
　　 進(jìn)行了火車輪對(duì)表面圖像的缺陷特征分析,研究了裂紋缺陷、偽缺陷的特征區(qū)別。研究了幾種主流的圖像分割技術(shù),包括邊緣分割、閾值處理、區(qū)域分割等。在對(duì)裂紋特征合

2、理假設(shè)之后,運(yùn)用了分塊極值思想,提出了多維特征直方圖擬合曲線分割的裂紋目標(biāo)提取算法,并對(duì)該算法與全局閾值分割進(jìn)行了比較及優(yōu)缺點(diǎn)分析。
　　 研究了裂紋目標(biāo)的結(jié)點(diǎn)特征提取算法。針對(duì)大量裂紋信息細(xì)弱、呈網(wǎng)狀的特性,提出了一種基于結(jié)點(diǎn)特征的目標(biāo)提取算法。該算法的核心思想是在基于雙重分塊極值的裂紋目標(biāo)分割圖像上,分析真?zhèn)瘟鸭y的結(jié)點(diǎn)特征區(qū)別,提取裂紋結(jié)點(diǎn),過濾“偽結(jié)點(diǎn)”,據(jù)此得到裂紋目標(biāo)。實(shí)驗(yàn)證明該方法效果較好,且簡單容易實(shí)現(xiàn)。