熒光磁粉探傷裂紋目標(biāo)提取方法研究.pdf

1、熒光磁粉探傷是檢驗鐵磁性材料表面或近表面缺陷的一種常用手段,由于其在不破壞原材料的條件下,具有檢測靈敏度高、速度快、檢測工藝簡單可靠等優(yōu)點,從而得到廣泛應(yīng)用。熒光磁粉缺陷圖像檢測是近幾年興起的一種研究性和實用性都很強的課題,本文致力于熒光磁粉探傷圖像裂紋目標(biāo)提取方法研究。
　　 進行了火車輪對表面圖像的缺陷特征分析,研究了裂紋缺陷、偽缺陷的特征區(qū)別。研究了幾種主流的圖像分割技術(shù),包括邊緣分割、閾值處理、區(qū)域分割等。在對裂紋特征合

2、理假設(shè)之后,運用了分塊極值思想,提出了多維特征直方圖擬合曲線分割的裂紋目標(biāo)提取算法,并對該算法與全局閾值分割進行了比較及優(yōu)缺點分析。
　　 研究了裂紋目標(biāo)的結(jié)點特征提取算法。針對大量裂紋信息細弱、呈網(wǎng)狀的特性,提出了一種基于結(jié)點特征的目標(biāo)提取算法。該算法的核心思想是在基于雙重分塊極值的裂紋目標(biāo)分割圖像上,分析真?zhèn)瘟鸭y的結(jié)點特征區(qū)別,提取裂紋結(jié)點,過濾“偽結(jié)點”,據(jù)此得到裂紋目標(biāo)。實驗證明該方法效果較好,且簡單容易實現(xiàn)。