基于數(shù)據(jù)深度的非參數(shù)控制圖方法研究.pdf

1、統(tǒng)計過程控制是產(chǎn)品質(zhì)量控制中的一個重要方法。而作為統(tǒng)計過程控制的重要工具,控制圖得到了廣泛應用。因產(chǎn)品的復雜性,許多情況下要同時對產(chǎn)品的多個質(zhì)量特性進行檢測。傳統(tǒng)的休哈特控制圖建立在數(shù)據(jù)分布為正態(tài)分布假設(shè)之上,但是實際中有許多情況并不能滿足該假設(shè)。而多元非參數(shù)控制圖能很好地解決非正態(tài)分布下對多個質(zhì)量特性進行檢測的問題。由于人們對質(zhì)量要求的不斷提高,過程控制需要對小偏移更加敏感。而累積和(CUSUM)控制圖,以及指數(shù)加權(quán)移動平均(EWMA

2、)控制圖,能很好地解決這樣的問題。
　　為了提高在非正態(tài)分布或分布未知狀態(tài)下,處理多質(zhì)量特性在小偏移情況下的檢測能力,本文提出將不依賴于數(shù)據(jù)分布類型的數(shù)據(jù)深度理論,分別應用于對小偏移檢測敏感的CUSUM控制圖,以及EWMA控制圖中,并以馬氏深度(MhD)、和單純型深度(SD)為例建立了MhD-CUSUM、SD-CUSUM、MhD-EWMA以及SD-EWMA四個控制圖。分別采用了二元正態(tài)分布和二元banana分布進行Matlab仿真

3、實驗,并與傳統(tǒng)的多元累計和(MCUSUM)控制圖,多元指數(shù)加權(quán)移動平均(MEWMA)控制圖以及Messaoud在“秩”理論基礎(chǔ)上建立的SD-rEWMA和MhD-rEWMA控制圖進行對比。
　　仿真結(jié)果表明:本文建立的SD-EWMA控制圖和MhD-EWMA控制圖分別優(yōu)于Messaoud建立的SD-rEWMA控制圖和MhD-rEWMA控制圖;在二元正態(tài)分布仿真中,傳統(tǒng)的MEWMA控制圖要優(yōu)于本文建立的SD-EWMA控制圖和MhD-EW