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1、發(fā)光二極管具有省電、輕巧、壽命長(zhǎng)、抗沖擊能力強(qiáng)等特點(diǎn),上世紀(jì)70年代開(kāi)始商業(yè)化之后便快速朝高輝度、多色化以及高發(fā)光效率方向發(fā)展,由于技術(shù)的突破使得LED的用途從早期的顯示、廣告為主轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體照明領(lǐng)域,尤其是高功率白光LED的實(shí)用化,使得LED成為下一代光源的主要發(fā)展方向。對(duì)于目前的GaN基LED,其外量子效率與內(nèi)量子效率相比,還存在明顯的差距,因此許多研究將著眼于外量子效率的提高。在GaN基LED結(jié)構(gòu)中,具有高透過(guò)率和低電阻的。ITO
2、材料已經(jīng)被廣泛用于制作電流擴(kuò)展層和窗口層,然而ITO和外界空氣的折射率大約分別為2.0和1.0,有較大差異,因此根據(jù)斯涅爾定律,有源區(qū)產(chǎn)生的光線(xiàn)在經(jīng)過(guò)ITO/空氣界面時(shí)會(huì)發(fā)生全反射現(xiàn)象,導(dǎo)致只有部分光線(xiàn)可以從芯片表面射出。為了提高光子的出射率,許多新技術(shù)被開(kāi)發(fā)出來(lái),如倒裝芯片技術(shù)、光子晶體技術(shù)、表面粗化技術(shù)等,其中表面粗化技術(shù)是一種簡(jiǎn)單有效的方法。
本課題的研究以解決半導(dǎo)體發(fā)光二極管出光面的光反射問(wèn)題為主要內(nèi)容,為了解決出
3、光面的全反射問(wèn)題,采用粗化ITO表面方法來(lái)實(shí)現(xiàn)光的散射,減少全反射幾率。采用超聲分散的方法制備鎳納米粒子分散液,將分散液用旋涂的方法在GaN基發(fā)光二極管(LED)的ITO電流擴(kuò)展層上制備單層鎳納米粒子掩膜,并使用ICP刻蝕技術(shù)在納米掩膜的保護(hù)下粗化ITO出光面。具體研究?jī)?nèi)容如下:
1.以無(wú)水乙醇為溶劑,使用超聲分散技術(shù)配制鎳納米粒子分散液,將分散液用旋涂的方式涂在GaN基LED的ITO電流擴(kuò)展層上形成刻蝕掩膜,研究了加入檸
4、檬酸作為分散劑對(duì)所形成的鎳納米粒子掩膜效果的影響。
2.以單層納米鎳粒子作為掩膜,采用ICP干蝕刻的方式,在ITO透明導(dǎo)電層制作表面粗化結(jié)構(gòu),制作出ITO表面粗化的GaN基LED芯片。
3.使用原子力顯微鏡測(cè)量了不同ICP作用時(shí)間下ITO表面的粗化形貌,結(jié)果顯示表面粗糙度隨著刻蝕時(shí)間而增加,進(jìn)一步通過(guò)合理的ICP刻蝕時(shí)間控制可以得到較好光電性能的LED芯片。
4.通過(guò)LED綜合檢測(cè)儀,測(cè)量了IT
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