AMD-APU的內(nèi)存控制器的測試技術(shù)研究和改進(jìn).pdf

1、作為電腦的重要組成部件,內(nèi)存的進(jìn)化和發(fā)展一直影響著電腦的運(yùn)算速度和整體性能,雖然市場上最快內(nèi)存DDR3的最高數(shù)據(jù)傳輸速率已經(jīng)可以達(dá)到2133MT/s,但是配置最快的DDR3并不能夠保證最高的運(yùn)算速度,因?yàn)橄到y(tǒng)性能會(huì)被另外一個(gè)重要參數(shù)“內(nèi)存延遲”影響。內(nèi)存延遲是指外置內(nèi)存管理器必須通過北橋進(jìn)行內(nèi)存與處理器之間的數(shù)據(jù)傳輸從而帶來的傳輸延遲。為了可以充分發(fā)揮內(nèi)存的高速數(shù)據(jù)傳輸能力AMD從K8系列CPU(包括Socket 754/939/940

2、等接口的各種處理器)內(nèi)部開始整合了內(nèi)存控制器,就可以有效控制內(nèi)存控制器工作在與處理器核心同樣的頻率上,而且由于內(nèi)存與處理器之間的數(shù)據(jù)傳輸無需經(jīng)過北橋,可以有效降低傳輸延遲,這個(gè)內(nèi)置內(nèi)存管理器簡稱為DDR。作為AMD最新的APU產(chǎn)品,市場匹配最高速的內(nèi)存,為了滿足客戶的高性能要求,DDR的質(zhì)量是極為重要部分。
　　APU是AMD最新主推的集成中央處理器CPU和顯卡GPU的芯片,其內(nèi)部的內(nèi)存控制器功能比K8系列產(chǎn)品更加強(qiáng)勁,可以支持市

3、面上最快的DDR內(nèi)存。AMD蘇州作為最重要的測試站點(diǎn)致力于有效迅速地判斷產(chǎn)品優(yōu)劣,在保證客戶質(zhì)量的同時(shí)有效控制生產(chǎn)成本。測試的內(nèi)容包括了已有的大多數(shù)基礎(chǔ)測試,重點(diǎn)是如何確定適合APU的測試條件,然后才可以開始大批量測試。測試條件的選定決定了AMD的測試結(jié)果和客戶拿到的產(chǎn)品質(zhì)量,也決定了測試結(jié)果能否正確反映出前端生產(chǎn)的問題。選定測試條件需要進(jìn)行產(chǎn)品特性描述,是半導(dǎo)體測試推出中重要的部分,本文會(huì)著重介紹基于APU的特性描述的過程,包括制定計(jì)

4、劃、實(shí)施過程、數(shù)據(jù)分析和最終決定。
　　產(chǎn)品特性描述的重要性在于選擇的測試條件使得測試的誤差最小,但是測試硬件的差異性,產(chǎn)品本身特性的波動(dòng)和測試軟件的程序缺陷還是會(huì)造成測試的誤差。這個(gè)誤差的表現(xiàn)通常體現(xiàn)在測試不良率上。及時(shí)發(fā)現(xiàn)測試不良率的變化然后做出改進(jìn)是AMD產(chǎn)品穩(wěn)定測試和順利提供給客戶產(chǎn)品的保證。本文會(huì)介紹幾種不同類型的案例,從問題發(fā)現(xiàn)、分析和解決的角度介紹測試內(nèi)容的改進(jìn)過程。與研究或設(shè)計(jì)遇到的問題解決方式不同,整個(gè)過程不光著