不同粒徑二氧化硅粉體改性及在聚酯中的分散性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、超細SiO2粉體在光學、電學、熱學、磁學和催化活性等方面具有特殊性能,因此被廣泛用于制備各種高強、高韌、導電、阻燃、耐光等功能性聚合物復合材料但是,由于超細SiO2粉體表面活性高,粉體表面含有大量羥基,因此粒子間有強烈的團聚傾向,極大地影響了SiO2粉體/聚合物復合材料的功能。一般認為,上述團聚的程度與粉體的粒徑大小密切相關,因此,研究不同粒徑SiO2粉體在聚合物中的分散性具有重要理論和實際意義。
　　 本論文選擇了微米、亞微米

2、和納米三種不同粒徑等級的SiO2粉體,利用硅烷偶聯(lián)劑(KH570)分別對其進行了表面接枝改性。利用紅外光譜(IR)、熱失重(TG)、X射線能譜(EDS)、X射線光電子能譜分析(XPS)等手段對改性前后不同粒徑的粉體進行了結構表征,采用原位聚合法制備不同粒徑SiO2/PET復合材料,采用掃描電子顯微鏡(SEM)等手段研究了不同粒徑Si02粉體在PET中的分散性。
　　 IR、TG、EDS、XPS結構表征研究結果表明,三種粒徑SiO

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