模擬電路測點(diǎn)優(yōu)選與測試生成方法研究.pdf

1、模擬電路測試節(jié)點(diǎn)優(yōu)選和測試生成技術(shù)是模擬電路故障診斷和可測性設(shè)計的重要研究內(nèi)容。這兩項(xiàng)技術(shù)的研究對減小電路測試復(fù)雜度、降低電路設(shè)計成本、提高電路故障診斷率具有重要意義。
　　 本論文詳細(xì)闡述了模擬電路測試節(jié)點(diǎn)優(yōu)選和測試激勵優(yōu)化設(shè)計基本原理,研究設(shè)計了一套具有良好普適性和魯棒性,適用于線性和非線性模擬電路的測試節(jié)點(diǎn)優(yōu)選和測試激勵優(yōu)化設(shè)計方法。論文主要研究工作包括:(1)設(shè)計了一種基于類內(nèi)類間敏感度因子與故障隔離度的模擬電路測試節(jié)點(diǎn)

2、優(yōu)選方法。通過計算電路各測試節(jié)點(diǎn)采樣數(shù)據(jù)的類內(nèi)類間離散度來定義測點(diǎn)敏感度因子,根據(jù)敏感度因子大小對待優(yōu)選測點(diǎn)進(jìn)行重新排序,利用KNN網(wǎng)絡(luò)計算重排序測試節(jié)點(diǎn)的故障隔離組(度),最后優(yōu)選出能辨識全部預(yù)設(shè)故障的最優(yōu)測試節(jié)點(diǎn)集。實(shí)驗(yàn)證明,對比相關(guān)參考文獻(xiàn)結(jié)果,本文方法優(yōu)選出的最優(yōu)測點(diǎn)集包含的測點(diǎn)數(shù)量更少,并且可以優(yōu)選出故障診斷效率更高的同等規(guī)模的測試節(jié)點(diǎn)集合。
　　 (2)設(shè)計了一種基于遺傳算法的測試激勵優(yōu)化方法。該方法利用遺傳算法概率

3、性全局尋優(yōu)、并行搜索能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),以電路故障響應(yīng)特征分布差異最大化為準(zhǔn)則來優(yōu)化電路測試激勵中的幅值、頻率和相位等參數(shù)。在對電路進(jìn)行交流掃頻分析和數(shù)學(xué)建模仿真分析基礎(chǔ)上,通過計算電路響應(yīng)信號采樣數(shù)據(jù)類內(nèi)類間離散度來定義優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),統(tǒng)計測試激勵敏感度因子大小,最終借助遺傳算法實(shí)現(xiàn)測試激勵優(yōu)化設(shè)計。實(shí)驗(yàn)證明,本文方法優(yōu)化設(shè)計出的測試激勵信號有效降低了電路故障響應(yīng)特征分布模糊性,提高了故障診斷率。
　　 本論文的研究工作受國家自然科學(xué)