基于測試用例優(yōu)先的自動(dòng)化回歸測試研究.pdf

1、軟件測試過程中，回歸測試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)，將回歸測試實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化很大程度上能夠簡化回歸測試繁瑣的過程。然而在大工程軟件系統(tǒng)中，測試用例非常多的情況下，在限定的時(shí)間內(nèi)不能運(yùn)行完所有的回歸測試用例，這將使得回歸測試非常低效。
　　針對(duì)如何提高大工程軟件自動(dòng)化回歸測試的效率問題，作者對(duì)比測試用例選擇、測試套件最小化和測試用例優(yōu)先技術(shù)，分析其優(yōu)缺點(diǎn)。決定使用測試用例優(yōu)先作為提高回歸測試效率的主要技術(shù)。通過對(duì)該技術(shù)中不優(yōu)先、隨機(jī)優(yōu)先、理想

2、優(yōu)先、代碼覆蓋率優(yōu)先和FEP優(yōu)先的實(shí)現(xiàn)技術(shù)對(duì)比分析，最終采用并設(shè)計(jì)了代碼覆蓋率(變化的函數(shù)所影響的測試用例優(yōu)先執(zhí)行)的解決方案。
　　該方案主要涉及：1）源代碼的函數(shù)級(jí)侵入：在源代碼編譯階段，對(duì)源代碼侵入、打樁；2）數(shù)據(jù)庫相關(guān)設(shè)計(jì)：收集測試用例和函數(shù)信息；3）測試用例的分類：對(duì)相似、相關(guān)的測試用例分類；4）補(bǔ)丁的解析：解析補(bǔ)丁得到受影響的函數(shù)信息；5）測試用例的優(yōu)先選擇：根據(jù)受影響的函數(shù)選擇受影響的測試用例并賦予高優(yōu)先級(jí)。

3、　　最后作者應(yīng)用相關(guān)的編程技術(shù)實(shí)現(xiàn)了代碼覆蓋率優(yōu)先的解決方案。本文所設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)的測試用例優(yōu)先技術(shù)經(jīng)過了反復(fù)的測試，得出了比較穩(wěn)定的版本，最后應(yīng)用到Intel的Linux圖形系統(tǒng)的自動(dòng)化回歸測試系統(tǒng)中，提高了該自動(dòng)化回歸測試系統(tǒng)的效率。
　　對(duì)舊系統(tǒng)和應(yīng)用了測試用例優(yōu)先技術(shù)的新系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)比測試后有如下結(jié)論：1)當(dāng)補(bǔ)丁修改了不常用的函數(shù)時(shí)，新系統(tǒng)能以較大概率(超過90％)選出退化的測試用例，并讓其優(yōu)先執(zhí)行；2)當(dāng)補(bǔ)丁修改了某些較常用的