測試用例優(yōu)先排序技術(shù)優(yōu)化研究.pdf

1、基于搜索的技術(shù)已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用于測試用例優(yōu)化領(lǐng)域內(nèi)，該領(lǐng)域內(nèi)包括測試用例優(yōu)先排序、測試用例選擇以及測試用例集最小化。測試用例優(yōu)先排序的優(yōu)化目標(biāo)為尋找測試用例集的最優(yōu)執(zhí)行次序，相較于測試用例選擇與測試用例集最小化而言，不會(huì)遺漏重要的測試用例，具有靈活性高、適應(yīng)性強(qiáng)的特點(diǎn)，因而越來越受到研究人員的重視。測試用例優(yōu)先排序問題是NP難問題，一般采用遺傳算法進(jìn)行求解，但在效率與效果方面，尚不能滿足實(shí)際應(yīng)用的需求:解決問題效果上，現(xiàn)有的遺傳算法沒有

2、針對問題特性進(jìn)行相應(yīng)改進(jìn)，所得結(jié)果有很大提升空間;執(zhí)行效率上，算法執(zhí)行時(shí)間較長，嚴(yán)重影響該技術(shù)在實(shí)際中的應(yīng)用。本文針對以上兩個(gè)問題，分別從理論優(yōu)化和工程實(shí)踐優(yōu)化提出了兩種不同的優(yōu)化策略。
　　在理論優(yōu)化方面，測試用例序列中先執(zhí)行的測試用例會(huì)影響后執(zhí)行測試用例對于測試目標(biāo)的貢獻(xiàn)，與遺傳算法中上位性基因的定義相似。本文在分析了測試用例優(yōu)先排序問題后，提出了該問題的上位性模型，并定義了上位測試用例段的概念。在此基礎(chǔ)上，提出了上位性遺傳算

3、法，算法包含兩種上位性交叉算子。實(shí)驗(yàn)中，上位性遺傳算法的效率與效果，均優(yōu)于采用當(dāng)前先進(jìn)交叉算子的遺傳算法。
　　在工程實(shí)踐優(yōu)化方面，本文采用了先進(jìn)的GPU并行計(jì)算平臺(tái)，提出了基于GPU的測試用例優(yōu)先排序并行框架。該框架針對遺傳算法中的適應(yīng)度函數(shù)計(jì)算與交叉算子分別進(jìn)行了并行化研究，最終提出了三種不同的并行策略。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，該并行框架可以帶來較高的效率提升，在針對6萬行有效代碼的工業(yè)界開源程序V8，可以帶來近30倍的加速比。在實(shí)驗(yàn)代