基于ARM11的MMC驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf_第1頁(yè)
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1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,非易失性存儲(chǔ)領(lǐng)域的主流從NOR結(jié)構(gòu)逐漸轉(zhuǎn)向NAND結(jié)構(gòu)閃存。而高容量NAND閃存,需要日益復(fù)雜的壞塊和糾錯(cuò)位管理系統(tǒng),從而催生了Managed NAND閃存系統(tǒng)。針對(duì)Managed NAND閃存系統(tǒng)的主流協(xié)議MMC(Multi Media Card),大型系統(tǒng)級(jí)測(cè)試設(shè)備得到一定應(yīng)用。但這些設(shè)備成本高昂,且不支持移動(dòng)測(cè)試。因此有必要研制低成本的測(cè)試系統(tǒng)。
　　本文主要介紹了一種基于ARM的MMC(Multi M

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