TD-LTE系統(tǒng)終端非接入層研究與測試.pdf

1、TD-LTE技術(shù)已經(jīng)成為準4G技術(shù)，越來越多的服務商、系統(tǒng)商和芯片商加入到TD-LTE技術(shù)的研究中，使得TD-LTE系統(tǒng)的技術(shù)規(guī)范越來越成熟，而隨著TDD頻譜的劃分，4G商業(yè)化的道路越加通暢。目前4G規(guī)模試驗網(wǎng)已經(jīng)在全國鋪開建設，TDD在頻譜利用方面的優(yōu)勢也會被越來越多的人體驗到。在終端方面，目前最重要的并不是給TD-LTE終端提出很多復雜和不必要的要求，而是應該側(cè)重于TD-LTE終端是否能夠商用且能否提供很好的性能。而對于TD-LTE

2、更多功能的引進，應該隨著時間的推移逐漸提出。因此，對TD-LTE系統(tǒng)終端的一致性測試才顯得尤為重要。
　　 本課題來源于“新一代寬帶無線移動通信網(wǎng)”國家科技重大專項《TD-LTE無線綜合測試儀表開發(fā)》和《TD-LTE TTCN擴展測試集儀表開發(fā)》。以往的TD-LTE系統(tǒng)測試中主要應用的是SDL與TTCN-2協(xié)仿真的方法來進行測試，這種測試方法復雜且測試準確率不高，可移植性也不好，為解決這一問題而引入TTCN-3核心語言與GFT圖

3、形建模相結(jié)合的測試方法，此方法可縮減手動編寫測試腳本所需的時間，從而提高測試效率。因此，使用TTCN-3核心語言和GFT圖形建模的方法開發(fā)TD-LTE系統(tǒng)終端非接入層的測試用例，具體的測試用例是依靠TTworkbench Professional軟件開發(fā)工具實現(xiàn)的。文章首先介紹了TD-LTE系統(tǒng)的技術(shù)背景和非接入層的網(wǎng)絡架構(gòu)，重點研究了非接入層中演進型移動性管理實體（EMM）的相關(guān)協(xié)議和功能以及非接入層測試例的開發(fā)環(huán)境和測試例的總體架構(gòu)