吉赫茲?rùn)M電磁波小室測(cè)量與校準(zhǔn)方法研究.pdf

1、隨著電力電子技術(shù)的不斷發(fā)展，由高速數(shù)字印刷電路的應(yīng)用引起的大量輻射電磁干擾問(wèn)題在現(xiàn)實(shí)中不斷出現(xiàn)且尚未得到很好解決，而電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的輻射發(fā)射和測(cè)量裝置主要為開(kāi)闊場(chǎng)(OAT)和電波暗室對(duì)于一般的民用產(chǎn)品較難實(shí)現(xiàn)；另一方面，成本相對(duì)較低的吉赫茲?rùn)M電磁波(GTEM)小室大都用于電磁抗擾度(EMS)測(cè)試，針對(duì)電磁干擾(EMI)的測(cè)量尚在研究之中，并且還存在計(jì)算精度不高、實(shí)現(xiàn)復(fù)雜等問(wèn)題。
　　針對(duì)上述問(wèn)題，本文開(kāi)展了“用于輻射電磁干擾

2、測(cè)量的吉赫茲?rùn)M電磁波(GTEM)小室測(cè)量與校準(zhǔn)方法研究”，包括以下三個(gè)部分：
　　(1)提出了GTEM小室輻射電磁干擾測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)和算法實(shí)現(xiàn)方法，使GTEM小室既可用于輻射電磁干擾噪聲的測(cè)試，又可進(jìn)行輻射噪聲機(jī)理的診斷；同時(shí)，采用Lab VIEW軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)設(shè)計(jì)一套自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，將GTEM小室的測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為等效的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量結(jié)果并判斷其輻射機(jī)理。
　　(2)提出了GTEM小室的校準(zhǔn)方法，采用多項(xiàng)式模型提取輻射噪聲，利用方

3、差對(duì)該模型的計(jì)算誤差進(jìn)行補(bǔ)償，并基于高階矩分析校準(zhǔn)后的GTEM小室和3m電波暗室測(cè)量的輻射電場(chǎng)值分布的相似性。
　　(3)基于上述方法，分別采用GTEM小室對(duì)電壓驅(qū)動(dòng)輻射模型PCB、基于RFID芯片的刷卡機(jī)和醫(yī)療用助視器的輻射電磁干擾噪聲進(jìn)行分析，驗(yàn)證了GTEM小室測(cè)量校準(zhǔn)方法對(duì)于不同的被測(cè)設(shè)備的均可適用。
　　理論分析與實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文方法能夠使GTEM小室用于輻射電磁干擾的測(cè)量和診斷，并使得其測(cè)量精度明顯提高，表明GT