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1、隨著微電子與計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，對(duì)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的采樣速率和精度提出了越來越高的要求。受限于ADC高速與高精度不能同時(shí)進(jìn)步的自身因素，減慢了高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)的發(fā)展速度。本文在數(shù)據(jù)采集技術(shù)的基礎(chǔ)之上，提出了一種結(jié)合SOPC(可編程片上系統(tǒng))技術(shù)的多片ADC并接的方法來提高系統(tǒng)的采樣速率。
本文首先對(duì)數(shù)據(jù)采集技術(shù)和基于NiosⅡ軟核的SOPC開發(fā)技術(shù)進(jìn)行闡述。其次，通過對(duì)多通道并行采樣技術(shù)理論的分析之后，采用兩片帶有對(duì)增益和偏置誤
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