光學(xué)元件高反射比高透射比測(cè)試技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、反射比和透射比是評(píng)價(jià)光學(xué)元件光學(xué)薄膜等光學(xué)性能的重要參數(shù)，也是開(kāi)發(fā)新型光電材料的一個(gè)重要依據(jù)。本文在單次反射測(cè)量法的基礎(chǔ)上，結(jié)合激光穩(wěn)功率技術(shù)、精密探測(cè)技術(shù)以及雙光路測(cè)量技術(shù)，研建了一套激光光學(xué)元件高反射比、高透射比測(cè)量系統(tǒng)，解決了單次反射測(cè)量法中由于光源的光強(qiáng)波動(dòng)和探測(cè)器面響應(yīng)度不均勻所引起的測(cè)量不確定度偏大的問(wèn)題，從根本上解決光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的高反射比和高透射比精確測(cè)量問(wèn)題，不僅實(shí)現(xiàn)了不同入射角度的高反射比測(cè)量，也實(shí)現(xiàn)了高透射比測(cè)

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