高抽象層次化的OVM驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì).pdf

1、隨著集成電路工藝和技術(shù)的飛速發(fā)展，設(shè)計(jì)規(guī)模和功能復(fù)雜度進(jìn)一步增大，對(duì)原本就非常復(fù)雜的驗(yàn)證工作提出了更大的挑戰(zhàn)。盡管傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法也在不斷的更新，但驗(yàn)證工作仍在整個(gè)設(shè)計(jì)流程中占據(jù)了超過(guò)80％甚至更多的工作量，已然成為了整個(gè)專(zhuān)用集成芯片設(shè)計(jì)的一大瓶頸。為了有效縮短驗(yàn)證時(shí)間、提高驗(yàn)證覆蓋率以及加快產(chǎn)品上市速度等，急需先進(jìn)的功能驗(yàn)證方法來(lái)提高傳統(tǒng)驗(yàn)證工作的效率。由于OVM驗(yàn)證方法學(xué)結(jié)合了覆蓋率驅(qū)動(dòng)驗(yàn)證、斷言驗(yàn)證、事務(wù)級(jí)驗(yàn)證、約束隨機(jī)激勵(lì)生成以及

2、直接測(cè)試等驗(yàn)證方法的優(yōu)點(diǎn)，基于System Verilog語(yǔ)言可以完成高效、高復(fù)用性以及高擴(kuò)展性的驗(yàn)證平臺(tái)，為提高驗(yàn)證效率提供了可能，也是本文選用該驗(yàn)證方法學(xué)的重要因素。
　　本文介紹了OVM驗(yàn)證方法學(xué)的基本體系，結(jié)合OVM的典型結(jié)構(gòu)與強(qiáng)大機(jī)制完成了基帶芯片中重要模塊追蹤調(diào)試系統(tǒng)的驗(yàn)證平臺(tái)搭建。由于驗(yàn)證工作對(duì)驗(yàn)證人員的經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)來(lái)講都有著非常高的要求，在驗(yàn)證的初期驗(yàn)證環(huán)境的框架以及驗(yàn)證環(huán)境的抽象級(jí)對(duì)后期的驗(yàn)證工作起到了至關(guān)重要的作

3、用，一個(gè)合適的驗(yàn)證抽象層次會(huì)減少很多設(shè)計(jì)底層的邏輯關(guān)系，過(guò)低的驗(yàn)證抽象級(jí)不僅在檢測(cè)時(shí)會(huì)增多很大的工作量，同時(shí)這樣的驗(yàn)證環(huán)境會(huì)跟底層設(shè)計(jì)產(chǎn)生過(guò)多的依賴(lài)關(guān)系，使得驗(yàn)證和設(shè)計(jì)無(wú)法真正剝離，無(wú)法真正有效的提高驗(yàn)證效率。本驗(yàn)證環(huán)境為了實(shí)現(xiàn)對(duì)好幾個(gè)相似模塊的平臺(tái)復(fù)用，在對(duì)各個(gè)組件的設(shè)計(jì)進(jìn)行詳細(xì)介紹的同時(shí)著重突出了該驗(yàn)證環(huán)境中的配置和層的核心技術(shù)，正是這兩點(diǎn)的成功設(shè)計(jì)才使得高抽象層次化的驗(yàn)證平臺(tái)成為可能。同時(shí)本文突出VIP驗(yàn)證的優(yōu)勢(shì)，集成成熟的驗(yàn)證模