12位帶數(shù)字校準的SAR ADC設(shè)計與實現(xiàn).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在納米工藝節(jié)點下，為了滿足系統(tǒng)要求驅(qū)動模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）向高速、高精度和低功耗領(lǐng)域發(fā)展。由于SAR ADC具有低功耗、結(jié)構(gòu)簡單、易集成等優(yōu)點成為研究的熱點。為滿足高精度應用需求，本文主要研究了在12位SAR ADC中數(shù)字校準算法，為減小采樣電容的面積開銷及輸入負載本文采用分裂電容陣列的電容DAC。
　　影響SAR ADC線性度的主要是電容失配，針對這個問題本論文在自校準算法的基礎(chǔ)上提出了改進算法。改進算法節(jié)省了1/4的電容開銷，

2、可以直接利用數(shù)字電路對誤差電壓進行校準，取得了較好的校準效果。針對低功耗的要求，在對比分析了4種開關(guān)方式后，選擇能效最好的單片開關(guān)方式，相對于傳統(tǒng)的開關(guān)方式這種方法可以節(jié)省81％的功耗開銷。另外，論文詳細分析了分裂電容結(jié)構(gòu)原理，為改善線性度，本文設(shè)計了衰減電容為整數(shù)電容的兩段式電容陣列。最后論文通過MATLAB建模的方式確定了關(guān)鍵電路模塊的指標，本文詳細分析關(guān)鍵電路模塊原理。
　　最后基于分裂電容陣列的數(shù)字校準算法設(shè)計實現(xiàn)了一個1

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