基于不同域的流水線ADC數(shù)字校準(zhǔn)方法的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、流水線結(jié)構(gòu)模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）兼顧精度與速度，在無(wú)線通信、醫(yī)療、生物等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用?；跀?shù)字校準(zhǔn)的ADC設(shè)計(jì)是解決高速與高精度這一矛盾的重要研究點(diǎn)，具有十分重要的研究意義與價(jià)值。
　　本文首先對(duì)近年來(lái)國(guó)內(nèi)外校準(zhǔn)方法進(jìn)行了歸類綜述，在總結(jié)其優(yōu)缺點(diǎn)的基礎(chǔ)上給出了適合本次設(shè)計(jì)指標(biāo)的校準(zhǔn)方法研究方向。
　　其次，簡(jiǎn)要介紹了流水線ADC的結(jié)構(gòu)，分析了其誤差來(lái)源，給出了ADC的性能判定指標(biāo)。并簡(jiǎn)單數(shù)學(xué)分析了最小均方誤差算法的原理。

2、
　　針對(duì)傳統(tǒng)誤差建模中存在的四個(gè)問(wèn)題，本文在其基礎(chǔ)上給出了隨機(jī)誤差的建模，并基于此，提出了一種改進(jìn)的自適應(yīng)步長(zhǎng)盲均衡校準(zhǔn)算法。仿真表明，改進(jìn)的算法和傳統(tǒng)的算法相比，在誤差條件范圍一致的情況下，各性能指標(biāo)均有4~10dB的提升。同時(shí)，改進(jìn)算法收斂速度更快，性能更穩(wěn)定。
　　考慮到深亞微米以及納米級(jí)工藝芯片設(shè)計(jì)中線路間干擾越發(fā)嚴(yán)重，特別是在數(shù)?；旌显O(shè)計(jì)中，物理設(shè)計(jì)更加困難。本文在一種新的數(shù)值域—概率域內(nèi)將盲均衡算法進(jìn)行了重新設(shè)

3、計(jì)。在設(shè)計(jì)中，本文提出了一種新的高精度加法器設(shè)計(jì)方法和一種新的低復(fù)雜度高吞吐率的乘加結(jié)構(gòu)。最終仿真表明，在概率域中設(shè)計(jì)的盲均衡校準(zhǔn)算法依舊可以正常工作，且可以在一定程度上校準(zhǔn)非線性誤差。
　　最后，本文在權(quán)衡設(shè)計(jì)指標(biāo)和實(shí)際設(shè)計(jì)困難的基礎(chǔ)上，選擇提出的第一種改進(jìn)方法進(jìn)行了實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)，完成了基于MATLAB-FPGA的原型驗(yàn)證，以及基于SMIC0.13um工藝的芯片設(shè)計(jì)。芯片設(shè)計(jì)DIE面積約為2*1.2mm2。在模擬電路實(shí)際仿真的數(shù)據(jù)（