基于BIST的帶時(shí)延故障的FPGA測(cè)試.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩73頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、隨著超大規(guī)模集成電路的迅速發(fā)展,90納米技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用,上千萬(wàn)門(mén)的集成電路已經(jīng)產(chǎn)生。一方面,芯片封裝越來(lái)越小,引腳越來(lái)越密,印制電路飯的密度日益增大,芯片的互連測(cè)試成為一個(gè)亟待解決的問(wèn)題。另一方面,芯片或功能模塊內(nèi)部有很多節(jié)點(diǎn)無(wú)法探測(cè),對(duì)這些節(jié)點(diǎn)和功能塊測(cè)試是又一個(gè)測(cè)試的難題。隨著集成電路的進(jìn)一步發(fā)展,使用外部設(shè)備測(cè)試電路板將更加困難。近年來(lái)提出的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DesignforTestability,DFT)成了解決上述測(cè)試問(wèn)題的有效途徑

2、。自測(cè)試時(shí)常是在軟件中實(shí)現(xiàn)的,但一種純軟件自測(cè)試方法在系統(tǒng)級(jí)滿足要求時(shí),會(huì)有若干缺點(diǎn)。這種測(cè)試可能診斷分辨率差。此外,一種良好的軟件式測(cè)試可能開(kāi)發(fā)時(shí)間很長(zhǎng)、很慢,而且費(fèi)用大。一種越來(lái)越受到注意的方法是內(nèi)建自測(cè)試(BuiltinSelfTest,BIST)一也就是在硬件本身中實(shí)現(xiàn)自測(cè)試。然而相比工程領(lǐng)域,國(guó)內(nèi)對(duì)現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)的BIST測(cè)試技術(shù)成功應(yīng)用的報(bào)道并不多,作者的工

3、作就是基于以上事實(shí)展開(kāi)的。本論文主要討論的是可編程邏輯器件FPGA的BIST理論、方法和應(yīng)用。重點(diǎn)對(duì)BIST測(cè)試生成算法、設(shè)計(jì)、應(yīng)用進(jìn)行了探討。 本文討論了BIST設(shè)計(jì)原理和方法,研究了FPGA故障模型,基于這些模型、原理和方法,研究了BIST測(cè)試激勵(lì)的產(chǎn)生和測(cè)試響應(yīng)的分析方法,對(duì)測(cè)試激勵(lì)產(chǎn)生器和測(cè)試響應(yīng)分析器進(jìn)行了改進(jìn),提出一種基于遺傳算法(GenerationAlgorithm,GA)和線性反饋移位寄存器(LinearFee

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論