懸式絕緣子表面狀況預(yù)測(cè)方法的研究.pdf_第1頁
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1、為了評(píng)估絕緣子的污穢程度,預(yù)防絕緣子污閃事故的發(fā)生,國(guó)內(nèi)外對(duì)絕緣子泄漏電流與污穢程度、各環(huán)境因素之間的關(guān)系進(jìn)行了大量的研究,但是大都不夠系統(tǒng)。本文在人工氣候室中進(jìn)行了大量的人工污穢試驗(yàn),全面分析了在高濕度以及飽和受潮狀況下鹽密(ESDD)、灰密(NSDD)和濕度的變化對(duì)絕緣子表面泄漏電流(IL)的影響。試驗(yàn)結(jié)果表明,ESDD和NSDD的變化對(duì)IL有著類似的非線性函數(shù)關(guān)系,可以將其歸為污穢度一同進(jìn)行分析。為了預(yù)測(cè)絕緣子表面污穢程度,本文建

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