反射式飛行時間質譜物理設計和OCS電子貼附解離實驗.pdf

1、飛行時間質譜是一種在現(xiàn)代物理和化學領域應用的極為廣泛的分析工具。飛行時間質譜儀主要分為線型飛行時間質譜儀和反射式飛行時間質譜儀這兩種。其中，反射式飛行時間質譜儀質量分辨較高，因此，我們模擬設計了一種反射式飛行時間質譜儀。模擬的質譜分辨率較高，可以用于研究更復雜的電子貼附解離反應。我們詳細介紹了反射式飛行時間質譜的原理以及各項參數(shù)，然后對離子束飛行時間等相關參數(shù)進行了模擬優(yōu)化。
　　電子貼附解離(DEA)反應是指能量較低的電子與分子

2、碰撞發(fā)生貼附解離，產生負離子碎片和中性粒子碎片。用負離子速度成像裝置可以檢測負離子的切片成像，從而得到負離子的截面、動能分布和角度分布等信息，再結合理論計算，我們可以推測出貼附解離反應的動力學過程。
　　我們使用實驗室搭建的負離子速度成像裝置進行了入射電子能量為4.3、4.7、5.0、6.2、6.5、6.8、7.0以及7.5eV這幾個能量點下的OCS電子貼附解離實驗。在上述能量點下，OCS貼附解離反應都為同一解離通道，即e-+OC