全反射X射線熒光分析應(yīng)用于大氣顆粒物的分析技術(shù)研究.pdf

1、該項(xiàng)研究應(yīng)用全反射X射線熒光分析(TXRF)技術(shù)分析分粒徑的大氣顆粒物,由湖南省自然科學(xué)基金資助,與中國原子能科學(xué)研究院放射化學(xué)所XRF實(shí)驗(yàn)室合作完成.大氣顆粒物采樣由可采集0.03~10μm粒徑范圍的電稱低壓沖擊器(ELPI)采樣機(jī)在南華大學(xué)的核科學(xué)技術(shù)學(xué)院四樓完成,距地面高度約12米.該采樣機(jī)共有13級采樣器,采樣時選取對人類健康危害有代表性的粒徑范圍內(nèi)的大氣顆粒物.采樣時使用三種采樣膜:核孔膜(PC MB 25mm No hole

2、s,IPR-200,Track-Etch Membrane);鋁膜(25mm,CF-300)和玻璃碳纖維膜(47mm,PMF-347),采用三種不同的樣品溶液制備方法處理采樣膜:超聲波震蕩法、微波爐溶解法、刮樣-溶解法.使用全反射X射線熒光分析技術(shù)分析了所采大氣顆粒物樣品中的微量和痕量元素S,K,Ca,Cr,Mn,Fe,Co,Cu,Zn,Pb及其含量.研究結(jié)果表明核孔膜的本底較低,而且較容易制樣,相對來說是一種較為適宜的采樣膜.刮樣-溶

3、解法雖然是一種比較耗力的制樣方法,但與其它方法相比能夠降低膜上本底元素給樣品中各元素帶來的干擾.使用的TXRF分析裝置對Ni、Cu、Rb元素的最低探測限可以達(dá)到0.5ng左右,說明其分析靈敏度很高.樣品位置偏離石英反射體中央約2~3mm時,給各元素的熒光計數(shù)帶來的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差不大于8.0％.用Mo靶X光管激發(fā)S元素的靈敏度比較低,若使用Cu靶或Cr靶X光管激發(fā)低原子序數(shù)的S元素效果會更好.另外,從核孔膜和鋁膜的采樣分析結(jié)果可以看出,初步