綜合孔徑微波輻射計均勻圓環(huán)陣反演方法研究.pdf

1、微波輻射計使用孔徑綜合技術利用天線陣列來觀測目標輻射特性，降低了硬件成本，提高了空間分辨率。目前最常用的“Y”型陣存在較多的冗余基線，增加了硬件復雜度。圓環(huán)陣能夠降低基線冗余度，然而其空間頻域采樣點呈非均勻分布，不能使用快速傅里葉變換反演算法進行圖像反演，需要適當的網格轉換。一般的非均勻快速傅里葉變換反演法插值誤差和計算量較大、成像質量和成像時間需要平衡，本文采用偽極坐標反演法來解決這些問題。本文主要針對均勻圓環(huán)陣，重點研究綜合孔徑微波

2、輻射計均勻圓環(huán)陣偽極坐標反演算法。
　　本文介紹了輻射計和反演算法的研究現狀，指出了綜合孔徑微波輻射計圓環(huán)陣反演算法研究存在的問題和不足。從點源和展源這兩個方面討論了綜合孔徑輻射計測量原理，建立圖像反演數學模型，研究了天線陣列設計中需要考慮的空間分辨率和無混疊視場等問題并介紹了幾種重要的反演算法。針對圓環(huán)陣的特點，為了提高成像的質量，討論了非均勻快速傅里葉變換反演法和偽極坐標反演法，指出了偽極坐標反演法用于均勻圓環(huán)陣的優(yōu)勢。最后，