密集環(huán)境下超高頻RFID系統(tǒng)關(guān)鍵問題研究.pdf

1、隨著物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的飛速發(fā)展，RFID技術(shù)不斷成熟，越來越多的生產(chǎn)、生活場景開始應(yīng)用RFID技術(shù)。由于RFID系統(tǒng)應(yīng)用環(huán)境的密集化、復(fù)雜化，越來越多的RFID系統(tǒng)需要大量布放閱讀器及標(biāo)簽。傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)無法滿足密集環(huán)境RFID測試的需要，因此，需要提出新的密集環(huán)境下的RFID測試新方法及指標(biāo)參數(shù)。
　　本文的主要研究內(nèi)容如下:
　　第一，對RFID系統(tǒng)下存在的標(biāo)簽防碰撞問題和閱讀器防碰撞問題進(jìn)行了研究，并分析了碰撞發(fā)生的原因

2、。對超高頻RFID系統(tǒng)性能指標(biāo)進(jìn)行了分析。
　　第二，現(xiàn)有的標(biāo)簽防碰撞算法指標(biāo)大都是基于吞吐率的，但是由于吞吐率的計算忽略了實際的通信鏈路中各個時隙的真實長度，因此吞吐率并不能很好地衡量實際RFID應(yīng)用系統(tǒng)的工作效率。本文提出了一種基于識別速率的標(biāo)簽防碰撞性能指標(biāo)，該指標(biāo)基于真實的通信鏈路時間，更接近真實的使用場景，具有實際的指導(dǎo)意義。
　　第三，提出了一種新的閱讀器防碰撞性能測試方法，完成了現(xiàn)場測試環(huán)境的搭建。對采集到的閱