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文檔簡介
1、碲鋅鎘(Cadmium Zinc Telluride,Cd1-xZnxTe)晶體以其優(yōu)異的光電特性,引起了越來越多的研究者的重視,其中Cd0.96Zn0.04Te晶體常被用于制作高性能碲鎘汞紅外探測器的襯底材料,尤其引人注目。但碲鋅鎘晶體生長中存在的生產(chǎn)成本高,制得晶體質(zhì)量差、體積小等問題至今未能有效解決。移動(dòng)加熱器法(Travelling heater method,簡稱THM)作為一種低成本制備大體積、高質(zhì)量單晶體的方法,有望解決上
2、述難題。但THM生長碲鋅鎘晶體也存在生長速度低、工藝參數(shù)不成熟等問題。
為了解決上述問題,本文利用Marc有限元仿真模擬軟件模擬研究了THM生長Cd0.96Zn0.04Te晶體的過程,探討了坩堝材質(zhì)、爐膛溫度邊界、生長速度、加速坩堝旋轉(zhuǎn)技術(shù)(Accelerated crucible rotation technique,簡稱ACRT)等工藝參數(shù)的影響,并在此基礎(chǔ)上對(duì)工藝參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)選。主要研究內(nèi)容如下:
模擬研究了石
3、英、石墨兩種材質(zhì)坩堝對(duì)THM生長碲鋅鎘晶體的影響。通過比較其對(duì)碲溶劑區(qū)和籽晶區(qū)溫度梯度、碲溶劑區(qū)可以達(dá)到的最高溫度、固液界面形狀的影響,并結(jié)合實(shí)際實(shí)驗(yàn)條件,決定優(yōu)選內(nèi)壁鍍有一薄層碳膜的石英坩堝;
模擬研究了晶體最大生長半徑與所需爐膛溫度邊界的關(guān)系。模擬結(jié)果表明:隨著晶體生長半徑的增加,施加的爐膛溫度邊界也需要相應(yīng)地增加;
模擬研究了相同晶體生長半徑下不同過熱度對(duì)THM生長碲鋅鎘晶體的影響。通過對(duì)溫度梯度、熱流密度、固
4、液界面形狀的變化的比較研究,認(rèn)為當(dāng)THM生長R=20mm的碲鋅鎘晶體時(shí)過熱約100K左右的爐膛溫度邊界是理想的;
模擬研究了生長速度對(duì)THM生長碲鋅鎘晶體的影響,并定性探討了生長半徑與生長速度的關(guān)系。通過不同生長速度對(duì)溫度、溫度梯度、熱流密度、固液界面形狀的影響的比較,認(rèn)為當(dāng)THM生長R=20mm的碲鋅鎘晶體時(shí),4.6×10-5mm/s的生長速度較佳;
探討了ACRT對(duì)THM生長碲鋅鎘晶體的溫場和流場的影響。通過其對(duì)
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