2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、Nand Flash——非易失存儲介質(zhì)中的一種,以更寬的溫度范圍、高抗震動性能、高可靠性等諸多優(yōu)點被廣泛地應(yīng)用在了高速、低功耗的存儲裝置中。在現(xiàn)代的航天、軍用設(shè)備等領(lǐng)域內(nèi)中要對各種信息進(jìn)行高速采集,這些場合都需要高速、大容量的存儲裝置予以配合存儲。
  本文先調(diào)研、分析了存儲裝置,尤其是大容量裝置的研究背景,以國內(nèi)外的研究發(fā)展為背景,針對在動態(tài)信號測試過程中多通道數(shù)據(jù)存儲的實際需求,設(shè)計了一款大容量存儲裝置。該存儲裝置在單片Nan

2、d Flash的基礎(chǔ)上搭建了存儲陣列,該陣列是存儲裝置的功能主要體現(xiàn)之處。在裝置輸入端接收8路高速LVDS圖像數(shù)據(jù),單路圖像的數(shù)據(jù)格式為:320(列)?256(行)?16(位)。在FPGA主控芯片的控制下將這些數(shù)據(jù)存儲在存儲陣列中,針對FPGA內(nèi)部的數(shù)據(jù)傳輸設(shè)計了專用的DMA傳輸方式,避免時間耗損。針對Flash芯片在編程階段不會響應(yīng)別的操作,設(shè)計了分時加載存儲技術(shù)以提高平均存儲速度。在文章中分別從硬件、軟件兩方面來闡述了LVDS接收、

3、數(shù)據(jù)的傳輸及控制等模塊,為保證大容量存儲裝置的可靠性,重點闡述了在nand Flash中數(shù)據(jù)的BCH糾錯碼、壞塊的編碼管理、均衡損耗等。因壞塊在編碼管理過程中會出現(xiàn)同位置壞塊問題,又設(shè)計了壞塊表重構(gòu)技術(shù)。
  系統(tǒng)選用了Altera公司的cyclone III系列的FPGA來控制整個存儲系統(tǒng),系統(tǒng)時鐘是50MHz。通過分析實驗中所獲取的數(shù)據(jù),說明構(gòu)建的nand Flash存儲陣列裝置可以有效可靠地記錄數(shù)據(jù)、有效快速地管理壞塊,滿足

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