帕爾貼效應演示實驗報告

1、帕爾貼效應演示實驗報告帕爾貼效應演示實驗報告課題:熱電效應引起的器件失效—二次擊穿1、開篇隨著科學技術的發(fā)展，電子設備的功能更加的強大了，我們的生活已經(jīng)離開不了這些科技產(chǎn)物，然而與之帶來的困擾也就來了，那就是期間的可靠性，我們希望我們的電子產(chǎn)品不但功能強大，而且還要有更高的可靠性，更長的壽命。所以技術人員對器件的失效原因進行研究，當然，失效原因有多種，如:包封失效、導線連接失效、裸芯粘接故障本征硅的缺陷等原因，下面我們說說一種很常見的失

2、效原因——熱效應引起的器件失效，也就是我們所說的二次擊穿。2、器件失效在談這個問題之前，我們先解析下其中的幾個名詞吧，首先我們說說什么是器件失效？從字面上理解來看，器件失效即電子產(chǎn)品喪失它那人們所期望的功能，通俗點說就是該器件不去干它應干的活了。、器件失效的分類、模型、及器件平均壽命計算方法器件的穩(wěn)定性是尤為重要的，我們試想一個龐大的系統(tǒng)，如一個宇宙飛船，所有電子器件都要正常運作，稍有閃失出現(xiàn)某些或某個器件失效，帶來的后果極有可能是毀強

3、制風冷因此提高強制風冷效果的技術就成了研究的重點.合理的風道設計和在散熱器前端加入擾流片引入紊流可顯著的提高散熱效果.還有種方法，就是通過數(shù)學建模的方法，當然了，這需要相關專業(yè)軟件的支持，做出仿真模型，從中我們要關注的是對模型功能其決定作用的參數(shù)，如果參數(shù)不多，我們可以簡單地通過調(diào)配參數(shù)來看模擬結果是否符合要求，如果參數(shù)過多的話我們可以自己動手做些優(yōu)化計算，如果不太專業(yè)的話可以使用matlab做優(yōu)化計算，雖然語言簡單但這也相對不太方便，

4、畢竟不是專業(yè)做優(yōu)化的，我們還是可以使用lingo軟件來做優(yōu)化處理，lingo可是專門用來做優(yōu)化處理的，它也有自己專門的語言以上就是我對器件失效的一些拙見。3、熱電效應什么是熱電效應那么何為熱電效應呢？所謂的熱電效應，是當受熱物體中的電子，因隨著溫度梯度由高溫區(qū)往低溫區(qū)移動時，所產(chǎn)生電流或電荷堆積的一種現(xiàn)象。而這個效應的大小，則是用稱為thermopower(Q)的參數(shù)來測量，其定義為Q=EdT(E為因電荷堆積產(chǎn)生的電場，dT則是溫度梯度