智能機內(nèi)測試研究綜述

1、智能機內(nèi)測試研究綜述智能機內(nèi)測試研究綜述張超12，馬存寶12，宋東1，許家棟2(1.西北工業(yè)大學航空學院陜西西安710072；2.西北工業(yè)大學電子信息學院陜西西安710072)摘要：要：機內(nèi)測試(BIT)是一種能顯著提高系統(tǒng)測試性和診斷能力的重要技術，已大量應用于當代航空系統(tǒng)和武器裝備中。但虛警問題是困擾BIT應用的重大難題，并嚴重影響著武器裝備的戰(zhàn)備完好性和全壽命周期費用。因此，為從根本上解決BIT的虛警問題，智能BIT技術就成為測試

2、領域21世紀的重點研究項目之一。首先簡要介紹了BIT虛警的兩個主要產(chǎn)生原因，然后重點概述了智能BIT的發(fā)展狀況，并分析了當前研究方法中存在的不足，最后在研究BIT不確定性的基礎上提出了基于粗糙集的智能BIT故障診斷新技術，并指出了該技術中需要研究的若干關鍵問題。關鍵詞：關鍵詞：智能機內(nèi)測試；測試性；虛警；粗糙集；故障診斷中國分類號：中國分類號：TN56文獻標識碼：文獻標識碼：AIntelligentBuiltinTest:AnOverv

3、iewZHANGChao12MACunbao12SongDong1XUJiadong2(1.SchoolofAeronauticsNthwesternPolytechnicalUniversityXi’anShaanxi7100722.SchoolofElectricalInfmationNthwesternPolytechnicalUniversityXi’anShaanxi710072)Abstract:TheBuiltinTest

4、(BIT)isanimptanttechnologythatcangreatlyimprovethetestabilitydiagnosiscapabilityofthesystemnowithasbeensuccessfullyappliedintheaviationsystemweaponequipment.HoweverthefalsealarmproblemisoneoftheimptantfactsthatpreventBIT

5、frombeingmeextensivelyapplied，seriouslyaffecttheoperationalreadinesslifecyclecostofweaponequipments.IndertoreducethehighfalsealarmrateintelligentBITisakeytesttechniquethatshouldbewellstudiedinthe21thcentury.Twomainfactsi

6、nducingBITfalsealarmarefirstlyanalyzed.ThentheachievementsdevelopmenttrendsofintelligentBITarereviewedindetailtheshtcomingsintoday’sresearcharediscussed.FinallyanewroughsettheybasedintelligentBITfaultdiagnosistechniqueis

7、presentedaccdingtotheinvestigatingoftheBITuncertaintythekeyproblemstobestudiedarealsopointedout.Keywds:intelligentBuiltinTest；testability；falsealarm；roughsetfaultdiagnosis0引言引言機內(nèi)測試(BuiltinTest，簡稱BIT)技術是系統(tǒng)、設備內(nèi)部提供的檢測、隔離故障的

8、自動測試能力，是復雜系統(tǒng)或設備整體設計、分系統(tǒng)設計、狀態(tài)監(jiān)測、故障診斷和維修決策等方面的關鍵共性技術[12]。國外自從20世紀從70年代開展BIT技術研究以來，不僅在理論上做了大量積累，而且結合型號任務在應用上取得了一系列研究成果。目前美國幾乎所有的軍民機航空電子系統(tǒng)和武器裝備具有BIT，如F14、F111、F15A、F16、FA18、“狂風”、EF111、AE3A、F22、基金資助：基金資助：國家自然科學基金(60572173)、航天

9、創(chuàng)新基金(2004CH01001)、國防科工委預研項目、西北工業(yè)大學青年科技創(chuàng)新基金(M016217)作者簡介：作者簡介：張超(1977－)，男，湖北枝江人，講師，主要從事自動化測試和故障診斷的研究。馬存寶(1963－)，陜西三原人，教授，主要從事自動化測試、故障診斷和可靠性工程等方面的研究。JSF、RAH66、B737、B747、B777和M1A2坦克等，用于自行辨識運行狀態(tài)和快速檢測故障，從而大大改善了系統(tǒng)的可靠性、維修性和測試性，

10、降低了全壽命周期費用。而國內(nèi)對BIT的研究大致處于美國20世紀90年代初期水平，主要集中在型號任務應用中，BIT基礎理論和方法研究相對薄弱[1]。國內(nèi)外的研究和應用表明：虛警是困擾BIT應用的重大難題[110]。由于常規(guī)BIT的理論局限性，電子設備的BIT虛警率一直居高不下。高虛警率不僅直接影響了BIT系統(tǒng)的有效性，而且會對系統(tǒng)任務的完成以及系統(tǒng)的可用性、維修和備件等產(chǎn)生不利的影響，甚至造成使用人員對其喪失信心[1234]。為解決BIT

11、故障診斷能力差、虛警率高、不能復現(xiàn)率高及重檢合格率高等問題，國內(nèi)外學者提出了許多方法，其中最有效的就是將神經(jīng)網(wǎng)絡、專家系統(tǒng)、模糊邏輯等人工智能理論和方法引入到BIT故障診斷中而產(chǎn)生的智能智能BIT技術僅僅界定在BIT故障診斷范圍內(nèi)[7]。直到2001年徐永成等人在深入探討B(tài)IT內(nèi)涵的基礎上[8]，將智能BIT范圍擴展到BIT的智能設計、智能檢測、智能診斷和智能決策后才形成了真正意義上的智能BIT概念。2.2智能智能BIT國外研究和發(fā)展概

12、況國外研究和發(fā)展概況智能BIT的研究主要在美國空軍的懷特實驗室(WL)和羅姆航空發(fā)展中心(RADC)展開?？傮w來說，RADC對智能BIT的研究是最為系統(tǒng)的。1984年，RADC與格魯門航空公司及其轉(zhuǎn)包商BBN簽署了代號為F3060284C0051的研究合同，開始了“SmartBIT”的研究工作[69]。該項目歷時兩年，形成了編號為RADCTR85148的“SmartBIT”總結報告，開發(fā)出了集成BIT、信息增強BIT、改進決策BIT和維

13、修歷史BIT四種靈巧BIT技術，并以E2C機載電子系統(tǒng)飛行過程性能監(jiān)控器(FPM)分系統(tǒng)中的信號轉(zhuǎn)換器讀數(shù)與報警模塊(SCRAM)為演示對象，對信息增強BIT和改進決策BIT兩種技術進行了應用仿真[10]，結果表明AI技術可以在不增加額外測試節(jié)點或故障覆蓋的情況下檢測虛警或間歇性[11]。1986年，RADC再次與格魯門公司及BBN簽署了代號為F3060286C0272的研究合同，深入開展“SmartBIT2”的研究工作[12]。該項目

14、歷時四年，形成了編號為ADA247192的“SmartBIT2”總結報告，主要研究出了自適應BIT技術，包括K最近鄰算法、BP神經(jīng)網(wǎng)絡算法、瞬態(tài)監(jiān)控器的Markov模型，并在能代表現(xiàn)代航空電子復雜性的F111AE航空電子現(xiàn)代化計劃中的電子系統(tǒng)及其相連接的標準中央大氣數(shù)據(jù)計算機(SCADC)進行了實驗室仿真驗證[13]，結果表明：標準BIT只能報告被測單元是硬故障狀態(tài)或是正常狀態(tài)，而SmartBIT通過使用附加信息(被測單元輸入輸出、環(huán)境

15、傳感器輸入)可以報告被測單元的附加間歇態(tài)及其轉(zhuǎn)移概率[141516]。1986年，RADC還與Honeywell公司簽署了時間應力測量裝置的合同，開發(fā)了一種用于記錄機載設備所經(jīng)歷和承受的各種環(huán)境應力和電應力的時間歷程的TSMD裝置(如圖3所示)[17]。該裝置主要目的是用于記錄機載設備所經(jīng)歷和承受的各種環(huán)境應力與電應力的時間歷程，為獲取BIT智能故障診斷用的環(huán)境數(shù)據(jù)提供了有力保障。圖3TSMD結構示意圖與此同時，RADC與格魯門公司簽署

16、了一個繼續(xù)研究合同F(xiàn)3060286C0272，探討把靈巧BIT技術嵌入聯(lián)合監(jiān)視目標攻擊雷達(簡稱聯(lián)合之星)的可行性，該計劃與“SmartBIT2”計劃一起為把智能BIT技術改裝到聯(lián)合之星的電子系統(tǒng)中打下了基礎[1819]。1989年9月，RADC又一次與格魯門公司簽署合同，對智能BIT技術與TSMD技術進行綜合研究，目的是將這兩項技術集成到一個系統(tǒng)內(nèi)，運用AI技術對LRUBIT收集的信息和來自TSMD的環(huán)境信息進行綜合分析，以更準確地確

17、定LRU的真實狀態(tài)，大大提高識別虛警和故障判斷能力[2021]。為此目的，格魯門公司還在實驗室內(nèi)專門開發(fā)了智能BITTSMD綜合實驗臺[22]。1989年，RADC還與WestingHouse公司簽署了一種稱為“臨界檢查”(MarginalChecking，簡稱MC)的BIT狀態(tài)預測技術研究計劃[2324]，采用熱量信號、紅外圖像、聲音信號、振動信號、電磁信號、電參數(shù)的趨勢變化和偏差信號、噪聲信號等來預測被測單元(UUT)的發(fā)展狀態(tài)，用

18、于在線維修時增加操作準備時間、提高任務成功率。該技術是對智能BIT技術的有力補充。智能BIT是判斷當前BIT故障指示的有效性，MC技術是判斷即將發(fā)生故障的可能性。1992年9月，RADC與Raytheon公司簽署了代號為ADA293097的合同，研究開發(fā)神經(jīng)網(wǎng)絡虛警濾波器(NNFAF)，如圖4所示，其目的是研究運用神經(jīng)網(wǎng)絡技術準確濾除振動、溫度等各種復雜環(huán)境應力產(chǎn)生的BIT虛警的能力，以提高BIT的自適應能力[25262728]。該項目

19、歷時兩年，運用BP、BPTT、SPR、增強網(wǎng)絡等多種神經(jīng)網(wǎng)絡技術對BIT技術和典型環(huán)境應力進行了關聯(lián)分析[2930]，并以衛(wèi)星通信終端(MILSARCOM)為仿真對象進行了實驗研究，結果表明：神經(jīng)網(wǎng)絡技術可以有效的濾除BIT虛警、識別BIT間歇故障和硬故障。至此，RADC的智能BIT研究告一段落。圖4NNFAF結構示意圖美空軍WL實驗室在1983年完成ITM研究的基礎上，又聯(lián)合Honeywell公司、GE公司和麥道公司主電源電壓溫度傳感