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1、1實驗四:利用熱釋光劑量探測器實驗四:利用熱釋光劑量探測器thermoluminescentdetect(TLD)測量γ射線的累積劑量測量γ射線的累積劑量一、實驗?zāi)康囊?、實驗?zāi)康?、了解LiF(Mg,Cu,P)熱釋光材料用于劑量測量的原理及特性;2、掌握使用熱釋光劑量計測量個人劑量、環(huán)境劑量的基本原理和過程;3、掌握熱釋光相關(guān)儀器的組成和基本使用方法;二、實驗原理二、實驗原理1、能帶理論、能帶理論按照能帶理論,晶體物質(zhì)晶體物質(zhì)的電子能級
2、屬于兩種能帶:處于基態(tài)的已被電子占滿的允許能帶,稱為滿帶滿帶;沒有電子填入或尚未填滿的容許能帶,稱為導(dǎo)帶導(dǎo)帶。它們被一定寬度的禁帶所隔開。在晶體中,由于存在雜質(zhì)原子以及有原子或離子的缺位和結(jié)構(gòu)位錯等,從而造成晶體結(jié)構(gòu)上的缺陷。這些缺陷破壞了電中性,形成了局部電荷中心,它們能吸引和束縛電荷,在能帶圖上,也就是相當(dāng)于在禁帶中存在一些孤立的局部能級。在靠近導(dǎo)帶下面的局部能級能夠吸附電子,又稱為陷阱陷阱;在靠近滿帶上面的局部能級能夠吸附空穴,稱
3、為激發(fā)能級發(fā)能級。在沒有受到輻射照射前,電子陷阱是空著的,而激活能級是填滿電子的,具體見圖1。導(dǎo)帶陷阱禁帶激活能級價帶導(dǎo)帶陷阱禁帶激活能級價帶H中心①②F中心空穴電子導(dǎo)帶禁帶價帶①②③④⑴⑵⑶⑤陷阱激活能級圖1、晶體能帶圖圖2、F、H中心的形成圖3、熱釋光發(fā)光機(jī)理當(dāng)輻射如γ、X、β射線照射晶體時,產(chǎn)生電離或激發(fā),使價帶或激發(fā)能級中的電子受激而進(jìn)入導(dǎo)帶成為自由電子(圖2過程①),同時在價帶或激發(fā)能級中產(chǎn)生空穴,根據(jù)能量最小原則,這些空穴落
4、入激活能級的概率最大,俘獲了空穴的激活能級稱為H中心。類似3103R的照射量,熱釋光與照射量(吸收劑量)之間有較好的線形關(guān)系,如下圖5,其它溫度峰的熱釋光峰或因不穩(wěn)定(低溫峰),或靈敏度太低,或因線性不好而很少采用。圖5、照射量與LiF:MgTi探測器響應(yīng)的關(guān)系從圖5中可以看到,對于LiF(Mg,Ti)熱釋光材料來講,照射量小于103R時呈現(xiàn)良好的線性響應(yīng)性響應(yīng),而當(dāng)照射量超過2105R時將會出現(xiàn)超線性響應(yīng)超線性響應(yīng)。對于GR200型圓
5、片,從圖4和本小節(jié)敘述可知,在實際測量過程中,采用240℃左右的主發(fā)光峰可以得到較為精確的測量結(jié)果,對GR200圓片型探測器,廠家已經(jīng)給出了合適的測量步驟。2.4、飽和與負(fù)感、飽和與負(fù)感從圖5可知,熱釋光響應(yīng)在超線性之后將出現(xiàn)飽和現(xiàn)象(105~5106R),在飽和之后會出現(xiàn)隨照射量的增加而熱釋光減弱的負(fù)感現(xiàn)象負(fù)感現(xiàn)象,因此對于不同的熱釋光材料,一定要遵守給出的照射限定區(qū)間,否則將會得到差別甚大甚至錯誤的結(jié)果。2.5、靈敏度、靈敏度熱釋光
6、探測器的靈敏度是指每戈瑞(Gy)或拉德(Rad)熱釋光吸收的劑量的熱釋光響應(yīng)值。由于熱釋光是一種相對測量相對測量,因此我們并不關(guān)心熱釋光的絕對發(fā)光量,而通常是用“校準(zhǔn)光源”確定測量儀器的工作狀態(tài)后,對接受一定照射量的熱釋光進(jìn)行測量,各處特定條件下的刻度系數(shù)來表示其靈敏度。以LiF(Mg,Ti)(TLD100)為標(biāo)準(zhǔn),其它類型的熱釋光探測器的靈敏度與LiF(Mg,Ti)(TLD100)比較后得到的值即為相對靈敏度相對靈敏度。2.6、LET
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