射線探傷方法與應用及工藝的編制與優(yōu)化(2010年特種設備高級培訓教材)

1、1,RT探傷方法與應用,,2,圖2-1,現(xiàn)有某個儲罐，如圖。材質為16MnR，規(guī)格為:φ2000mm×12mm, 要求對殼體A、B類焊接接頭和B8 (Φ530×14 )接管對接縫透照 。 (涉及到透照方式選擇、透照次數(shù)計算、射線能量選擇、焦距選擇、曝光量選擇、透照時機確定、散射線控制等射線檢測工藝參數(shù)確定，這些即射線工藝，其中最重要的是透照方式選擇，為射線檢測工藝的靈魂),3,1 透照方式的選擇

2、 1.1 透照方式的選擇原則：依據(jù)工件的結構和技術條件的要求，優(yōu)先選用單壁透照方法；在單壁透照方法不能實施時才允許采用雙壁透照方法；雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以下的小徑管的環(huán)焊縫透照。,RT探傷方法與應用,4,RT探傷方法與應用,1.2透照方式的分類：直縫透照：單壁、雙壁；環(huán)縫單壁透照：外透、中心透照、偏心內透（FR ）；環(huán)縫雙壁透照：雙壁單影（傾斜、垂直）、雙壁雙影（傾斜、垂直）。,5,2 一次透照長度的

3、計算（最少透照次數(shù)計算） 2.1 幾個概念：一次透照長度——焊縫射線照相一次透照的有效檢驗長度(一般指源側的長度)，L3表示。受兩個因素的限制，一個是射線的有效照射場的范圍，一次透照長度不可能大于有效照射場的尺寸；另一個是透照厚度比（標準規(guī)定）限制了一次透照長度的大小。一次透照長度對照相質量和工作效率同時產生影響。（雙壁雙影的L3一般不計算，一次透照有效檢出范圍由其他因素決定，如寬容度。）,RT探傷方法與應用,6,,,7,搭接

4、長度——一張底片與相鄰底片重疊部分的長度,ΔL表示。有效評定長度——一次透照檢驗長度在底片上的投影長度，Leff表示。實際透照時，如果搭接標記放在射源側，則底片上搭接標記之間長度即為有效評定長度。如搭接標記放在膠片側，則底片上搭接標記以外還附加△L長度才是有效評定范圍（如縱縫雙壁透照時）(上述說法不包括環(huán)縫偏心F>R)。三者關系：Leff=L3+△L。

5、 △L= 2 × L2 (L3/2)/L1= L2 L3/L1,RT探傷方法與應用,8,2.2 直縫透照L3的計算：L3=2L1tanθ，其中θ=cos-1(1/K)， L1—射源到工件表面的距離。 θ—橫向裂紋檢出角。 K—透照厚度比，T’/T。,RT探傷方法與應用,9,2.2 環(huán)縫單壁外透L3的計算（最少曝光次數(shù)）：L3=πDO/N ，

6、其中 N=180/α，最少曝光次數(shù)； α=θ-η， η= sin-1 [DOsinθ/（DO+2L1）]。 θ= cos-1{[1+（K2-1）T/DO]/K}(據(jù)ΔOAC),(偏心內透F>R與同), α——與AB/2對應的圓心角；

7、 θ——有效最大失真角； η——有效半輻射角； K——透照厚度比； T——工件厚度； Do——容器外徑。,RT探傷方法與應用,10,,11,,源在外單壁透照對接環(huán)形焊

8、接接頭，透照厚度比K=1.1時的透照次數(shù) .Di=1800,T=30,K=1.1,F=600。(mm)T/Do=30/1860=0.016;Do/f=Do/(600-30)=3.26;N=19次。,12,環(huán)縫外透法中的幾何參數(shù)變化特點： ①當透照距離L1減小時，若透照長度L3不變，則K值、θ角增大；若K值、θ角不變，則一次透照長度L3縮短，最少透照次數(shù)增加。②當透照距離L1增大時，情況相反，當L1趨向無窮大時，透照弧長所對應的圓心

9、角即與壁厚度無關(?)，其極限等于影像最大失真角θ的2倍(而θ與T總是有關的)。若當Do >> T時，θ≈cos-1K-1 ；當K=1.1時，θ=24.62°，則環(huán)縫至少應攝片8張，用數(shù)式表示即： N=180/α= 180/ θ=180/24.62=7.31。,RT探傷方法與應用,13,2.3 環(huán)縫中心透照L3的計算（最少曝光次數(shù)） ： 這種透照布置透 照厚度K=1，橫 向裂紋檢出角θ ≈0

10、o,一次透照長度 L3=整條環(huán)縫長度。 最少曝光次數(shù)為1次。,RT探傷方法與應用,14,RT探傷方法與應用,2.4 環(huán)縫偏心內透照（F<R）L3的計算（最少曝光次數(shù)） ： L3=πDi/N ，其中 N=180/α，最少曝光次數(shù)； α= η - θ ， η= sin-1 [Disinθ/（DO-2F

11、）]。 θ= cos-1{[1 -（ K2-1）T/D i]/K}， α——與AB/2對應的圓心角； θ——有效最大失真角； η——有效半輻射角； K——透

12、照厚度比； T——工件厚度； Di——容器內徑; Do——容器外徑。,15,,16,環(huán)縫偏心內透照（F<R）幾何參數(shù)變化特點： ① 當透照焦距減小時，若透照長度L3不變，則K值、θ角增大；若K值、θ角不變，則一次透照長度L3縮短，最少曝光次數(shù)增加。 ②當透照焦距增大時，情況相反，當焦距趨向圓心時，透照弧長所對

13、應的圓心角即與壁厚度無關，其極限透照厚度比K=1，橫向裂紋檢出角θ≈0o,一次透照長度L3=整條環(huán)縫長度。最少曝光次數(shù)為1次。,RT探傷方法與應用,17,RT探傷方法與應用,2.5 環(huán)縫偏心內透照（F>R）L3的計算（最少曝光次數(shù)） ： L3=πDi/N ，其中 N=180/α，最少曝光次數(shù)； α= η+θ ，

14、 η= sin-1 [DOsinθ/（ 2F - DO ）]。 θ= cos-1{[1+（K2-1）T/DO]/K}， α——與AB/2對應的圓心角； θ——有效最大失真角； η——有效半輻射角；

15、 K——透照厚度比； T——工件厚度； Do——容器外徑。,18,,19,環(huán)縫偏心內透照（F>R）幾何參數(shù)變化特點： ① 當透照焦距減小時（即向圓心靠攏），若透照長度L3不變，則K值、θ角減??；若K值、θ角不變，則一次透照長度L3增大，當焦距趨向圓心時，透照弧長所

16、對應的圓心角即與壁厚度無關，其極限透照厚度比K=1，橫向裂紋檢出角θ≈0o,一次透照長度L3=整條環(huán)縫長度。最少曝光次數(shù)為1次。 ②當透照焦距增加時，若透照長度L3不變，則K值、θ角增大；若K值、θ角不變，則一次透照長度L3減小，當焦距趨向直徑時， 此時α = 2θ；若當Do>>T時，θ≈cos-1K-1 ；當K=1.1時，θ=24.62°，則環(huán)縫至少應攝片4張，用數(shù)式表示即： N=180/α= 180/ 2θ=1

17、80/（2×24.62）=3.66。,RT探傷方法與應用,20,RT探傷方法與應用,環(huán)縫內透照特別說明：不管是F＜R、F=R或F＞R的偏心法，如果使用普通的定向機照射，一次可檢范圍往往取決于X射線機的有效照射范場圍。偏心法中由計算求出的η角，必須服從于實際最大可用半輻射角的限制。,21,2.6 雙壁單影透照L3的計算（最少曝光次數(shù)） ： L3=πDo/N ，其中 N=180/α，最少

18、曝光次數(shù)； α= η+θ ， η= sin-1 [DOsinθ/（ 2F - DO ）]。 θ= cos-1{[1+（K2-1）T/DO]/K}， α——與AB/2對應的圓心角； θ——有效最大

19、失真角； η——有效半輻射角； K——透照厚度比； T——工件厚度； Do——容器外徑。,RT探傷方法與應用,22,,23,雙壁單影透照幾何參數(shù)變化特點： ① 當焦距等于管子外徑而T/Do甚小的

20、情況，則最大透照長度L3所對應的圓心角2α與壁厚度無關，等于影象失真角θ的4倍，即（2α）max=4θ；若當Do >> T時，θ≈cos-1K-1 ；當K=1.1時，θ=24.62°，因N=180/α = 180/ 2θ=180/（2×24.62）=3.66。 則環(huán)縫至少應攝片4張。②當焦距無限大時，最小透照有效長度L3所對應的圓心角2α就與管子形狀無關，等于失真角θ的2倍，即2αmax=2θ；若當Do

21、>> T時，θ≈cos-1K-1 ；當K=1.1時，θ=24.62°，則環(huán)縫至少應攝片8張，用數(shù)式表示即： N=180/α= 180/ θ=180/24.62=7.31。,RT探傷方法與應用,24,2.7 雙壁雙影透照L3的計算（最少曝光次數(shù)） ： 雙壁雙影法一般只用于直徑在100mm以下的小徑管的環(huán)焊縫透照。 L3=πDo/N ，其中N由相應的探傷標準確定，無須計

22、算。但理論計算完全能計算出來。 JB4730-2005規(guī)定： ①傾斜透照橢圓成像T/Do≤ 0.12,最少曝光次數(shù)N=2; ②傾斜透照橢圓成像T/Do> 0.12或垂直透照重疊成像時，最少曝光次數(shù)N=3。 ③結構原因不能進行多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次，由于透照一次不能100%檢測焊縫全長，此時應采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。,RT探傷方法與應

23、用,25,,,26,3 射線能量的選擇 3.1 射線能量的選擇原則：選擇射線源的首要因素是射線源所發(fā)出的射線對被檢試件具有足夠的穿透力。對X射線來說，穿透力取決于管電壓。對于γ射線來說，穿透力取決于放射源種類 。在保證穿透力的前提下，選擇能量較低的射線，以保證照相靈敏度。,RT探傷方法與應用,27,RT探傷方法與應用,隨著射線能量的增加，射線的平均波長變短，線質變硬，在物質中的衰減變小，穿透能力增強。對比度ΔD降低，固有不清

24、晰Ui增大，底片顆粒也將增大，其效果是射線照相靈敏度下降。 選擇的射線能量過低，穿透力不夠，到達膠片的透射線強度過小，造成底片黑度不足，灰霧增大，曝光時間過份延長；但可以獲得較高的對比度ΔD ，不過較高的ΔD卻意味著較低的透照厚度寬容度L。(很小的透照厚度差將產生很大的底片黑度差，使得底片黑度值超出允許范圍：或是厚度大的部位底片黑度太小，或是厚度小的部分黑度太大。)因此，在有透照厚度差的情況下，選擇射線能量還必須考慮能夠得

25、到合適的透照厚度寬容度L。在底片黑度不變的前提下，提高射線能量可以縮短曝光時間，從而可以提高工作效率，但其代價是靈敏度降低。為保證透照質量，標準對透照不同厚度允許使用的最高管電壓進行限制，并要求有適當?shù)钠毓饬俊?28,RT探傷方法與應用,3.2 選擇射線能量的具體方法：①對于輕質合金、低密度材料，目前尚無合適的γ射線源，主要是X射線。②厚度小于5mm的鋼及其合金，要選用X射線。③厚度為5mm∽50mm鋼及其合金，選用X射線總可獲得

26、較高的靈敏度， γ射線的選用應根據(jù)具體厚度和所要求的探傷靈敏度，選擇Ir192或Se75，應考濾配合使用的膠片類別。④厚度為50mm∽150mm鋼及其合金，選用X射線和γ射線可得到幾乎相同的像質靈敏度（50mm以下 X射線靈敏度比γ射線明顯高），但裂紋檢出率還是有差異。⑤厚度大于150mm的鋼及其合金，選用兆伏級高能X射線。 ⑥對大批量的工件實施射線照相，選用X射線，因為時間短，靈敏度高。,29,RT探傷方法與應用,⑦對某些條件困

27、難的現(xiàn)場透照，體積龐大的X射線機使用不方便可能成為主要問題。⑧環(huán)焊縫的透照盡量選用圓錐靶周向X射線機作內透中心法垂直全周向曝光，以提高工效和影像質量。對直徑較小的鍋爐聯(lián)箱或其他管道焊縫，也可選用小焦點（0.5mm）的棒陽極X射線管或小焦點（0.5—1.0mm)γ射線源作360?周向曝光。⑨ 選用平靶周向X射線機對環(huán)焊縫作內透中心法傾斜全周向曝光，必須考慮射線傾斜角度對焊縫中縱向面狀缺陷的檢出影響 。3.3 選擇射線能量時設備特點的

28、考慮3.3.1 X射線機特點①體積較大，以便鞋式、移動式、固定式依次增加；②基本費用和維修費用均較大；③能檢查40mm以上的鋼厚度的大X射線機成本很高，一般為移動式而非便攜式；,30,RT探傷方法與應用,④ X射線能量可改變，因此對各種厚度的試件均可使用最適宜的能量；⑤ X射線機可用開關切斷，故較易實施射線防護；⑥曝光時間一般為幾分鐘；⑦ 所有X射線機均需電源，有些還需水源。3.3.2 γ射線設備的特點：①射源尺寸小，

29、可用于X射線機頭無法接近的現(xiàn)場；②不需水源或電源；③費用低；④曝光時間長，通常需幾十分鐘，甚至多少小時；⑤對薄鋼件（如5mm以下）只有合適的放射性同位素（如Se75）才能獲得較高的靈敏度。,31,3.4 最高射線能量的選擇,對截面厚度變化大的工件，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過規(guī)定的Ｘ射線管電壓。對鋼、銅及銅合金管電壓增量不應超過50kV；對鈦及鈦合金管電壓增量不應超過40kV；對鋁及鋁合金管電壓增量不應超過30kV。

30、,32,3.4 最高射線能量的選擇,33,AB級的常用厚度范圍,34,RT探傷方法與應用,,4 焦距的選擇 4.1焦距的選擇原則① 所選擇的焦距必須滿足射線照相對幾何不清晰度的規(guī)定。焦距F越大，Ug值越小，底片上的影像越清新。焦距對射線照相靈敏度影響主要表現(xiàn)在幾何不清晰度Ug上Ug=dfL2/(F—L2)。(此條實際是確定了焦距的最小值)②所選擇的焦距應給出射線強度比較均勻的適當大小的透照區(qū)。以上兩點前者限制了焦距的最小

31、值，后者指導如何確定實際使用的焦距值。焦距的最小值通常由標準中的諾模圖查出（會使用）。 像質等級 透照距離L1 Ug值 A級 L1≥7.5dfL22/3 Ug≤2/15L21/3 AB級 L1≥10dfL22/3 Ug≤1/10L21/3 B級 L1≥15d

32、fL22/3 Ug≤1/15L21/3,35,RT探傷方法與應用,實際透照時一般并不采用最小焦距值，所用的焦距比最小焦距要大得多。這是因為透照場的大小與焦距相關。焦距增大后，勻強透照場范圍增大，這樣可以得較大的有效透照長度，同時影像清晰度也進一步提高。 增大焦點至膠片距離，按照平方反比定律，需要增加曝光時間。所以焦距不能無限增大。,36,RT探傷方法與應用,4.2不同透照方式的焦距選擇①直縫透照/環(huán)縫單壁外透照/環(huán)縫雙

33、壁雙影的焦距按照標準采用值700mm。②環(huán)縫偏心內透（FR ）的焦距盡量接近環(huán)縫的半徑； 這時最小焦距可減小20%。③環(huán)縫中心透照的焦距等于環(huán)縫的半徑；這時最小焦距可減小50%。④環(huán)縫雙壁單影透照的焦距盡量接近環(huán)縫的直徑（外徑）。,37,RT探傷方法與應用,5 曝光量的選擇 5.1曝光量與黑度、靈敏度的關系：曝光量是指管電流i與照射時間t的乘積（E=it）：對于γ射線來說，曝光量是指放射源活度A與照射時間t的乘積（E=

34、At）。底片的黑度取決于膠片感光乳劑吸收的射線量（即曝光量）。如果固定各項透照條件（試件尺寸，源試件、膠片的相對位置，膠片和增感屏，給定的放射源或管電壓），則底片黑度與曝光量有很好的對應關系，通過曝光量可以控制底片黑度。 曝光量也影響影像的對比度、顆粒度以及信噪比，從而影響底片上可記錄的最小細節(jié)尺寸（靈敏度） 。,38,5.2曝光量基準值的確定： 曝光量應不低于某一最小值。在焦距為700mm，曝光量的基準值為15

35、mA.min（照相質量等級A、AB級）和20mA.min（照相質量等B級）。5.3曝光量的調整幾個基本概念： ① 互易律—互易律是化學反應的一條基本定律，是決定光化學反應產物質量的條件，只與總的曝光量相關，即取決于輻射強度和時間的乘積，而與這兩個因素的單獨作用無關。由互易可知，欲保持底片黑度不變，只須滿足E=It=I1T1=I2T2=……但熒光增感時互易律失效。 ②平方反比定律—平方反比定律是物理光學的一條基本定律。它指出：從一點源

36、發(fā)出的輻射，強度I與距離F,RT探傷方法與應用,39,的平方成反比，即存在以下關系；I1/I2=（F2/F1）2。③曝光因子—Ψx=it/F2=i1t1/F12=i2t2/F22 ；或Ψγ=At/F2=A1t1/F12=A2t2/F22 。利用曝光因子的曝光量 調整：即底片黑度不變，曝光因子不變。 i1t1/F12=i2t2/F22 或A1t1/F12=A2t2/F22 。利用膠片特性曲線的曝光量 調整： ①底片黑度改變

37、的曝光量調整 ,根據(jù)膠片特性曲線上黑度的變化與曝光量變化對應的關系 ΔlgE=lgE1-lgE2 ; ②膠片類型改變的曝光量調整 ，利用這兩種膠片特性曲線按達到同一黑度時的曝光量變化ΔlgE=lgEA-lgEB來調整。,RT探傷方法與應用,40,RT探傷方法與應用,6 曝光曲線及應用 6.1曝光曲線—表示工件（材質、厚度）與工藝規(guī)范（管電壓、管電流、曝光時間、焦距、暗室處理條件等）之間相關性的曲線圖示。但通常只選擇工件厚度、管

38、電壓和曝光量作為可變參數(shù)，其他條件必須相對固定。曝光曲線必須通過實驗制作，且每臺X射線機的曝光曲線各不相同，不能通用，因為即使管電壓、管電流相同，如果不是一臺X射線機，其線質和照射率是不同的。 6.2曝光曲線的應用：給定透照厚度查出曝光量。如果焦距變化，則通過平方反比定律進行換算。,41,RT探傷方法與應用,求半值層、衰減系數(shù)、散射比。 在曝光曲線圖上，要確定某一管電壓下的半值層H和μ值，可任取兩曝光量E1和E2，使E2

39、=2E1，則與E2、E1相應的厚度T2、T1之差即為該“kV”下的平均半值層H， H=T2-T1（E2=2E1）。 由H可求得平均衰減系數(shù) μ=0.693/H求散射比。 將用“寬束法”和“窄束法”分別作出的曝光曲線組合在一張圖片中 ，同一厚度處散射比：n=E2/E1。材質改變時曝光量的換算。 φm=To/Tm 其中，φm金屬的射線透照等系數(shù)（

40、以鋼為基準）。 大致確定底片黑度范圍。 φ’D=1.8=ETA/ET； φ=E3.5/E1.8 式中：φ’D=1.8——由曝光曲線讀出的用某一管電壓透照被檢部分厚薄兩部分達到同一黑度（1 . 8）時相應曝光量之比； φ——由膠片特性曲線讀出的與標準規(guī)格的黑度上下限值相應的相對曝光量之比；E3.5、E1.8——分別使用膠片獲得黑度為3.5和1.8時相應的相對曝光量。 可簡捷

41、地確定用膠片獲得黑度能否符合規(guī)定的上下限制范圍。 若φ’≤φ，黑度范圍符合要求，若φ’＞φ，黑度必然“超標”。,42,RT探傷方法與應用,7 散射線的控制 7.1散射線的來源和分類 產生散射線的物體稱作散射源，在射線透照時，凡是被射線照射到的物體，例如試件、暗盒、桌面、墻壁、地面，甚至空氣都會成為散射源。其中最大的散射源往往是試件本身。 按散射的方向對散射線分類

42、，可將來自暗盒正面的散射稱為“前散射”，將來自暗盒背面的散射稱為“背散射”，還有一種散射稱為“邊蝕散射”，是指試件周圍的射線向試件背后的膠片散射，或試件中的較薄部位的射線向較厚部位散射，這種散射會導致影象邊界模糊，產生低黑度區(qū)域的周邊被侵蝕，面積縮小的所謂“邊蝕”現(xiàn)象。,43,RT探傷方法與應用,7.2散射比的影響因素 散射比n定義為散射線強度IS之比，即n=IS/IP。 照射場大小的影響：照射場大小對散射比幾乎沒有影響。除非是用極

43、小的照射場透照，散射比隨照射場的增大而增大，當照射直徑超過50mm后，即使照射場再增大，散射比也基本保持不變。試件厚度的影響：在相同射線能量下，散射比隨鋼厚度大而增大。射線能量的影響：散射比隨射線能量增大而變小。（散射強度隨射線能量的增大而增大。） 焊縫余高的影響：焊縫中心散射比高于同厚度平板中的散射比，隨著能量的增大，兩者數(shù)量逐漸接近。焊縫寬度的影響：余高寬度的增大而減小。此外，余高形狀不同，散射比也不同。,44,RT探傷方法

44、與應用,7.3散射線的控制措施散射線會使射線底片的灰霧黑度增大，影象對比度降低，對射線相質量是有害的。但由于受射線照射的一切物體都是散射源，所以實際上散射線是無法消除的，只能盡量設法減少。一、選擇合適的射線能量：對厚度差較大的工件,例如余高較高的焊縫或小徑管透照時,散射比隨射線能量的增大而減小,因此可以通過提高射線能量的方法來減少散射線。但射線能量值只能適當提高,以免對主因對比度和固有不清晰度產生明顯不利的影響。二、使用鉛范增感屏

45、：鉛箔增感屏除了具有增感作用外,還具有吸收低能散射線的作用,使用增感屏是減少散射線最方便、最經(jīng)濟,也是最常用的方法。選擇較厚的鉛箔減少散射線的效果較好,但會使增感效率降低,因此鉛箔厚度也不能過大。實際使用的鉛箔厚度與射線能量有關,且后屏的厚度一般大于前屏。,45,RT探傷方法與應用,還有一些措施是專門用來控制散射線的,應根據(jù)經(jīng)濟、方便、有效的原則加以選用,這些措施包括: 1.背防護鉛板：當暗盒背后近距離內如有金屬或非金屬

46、材料物體,例如鋼平臺、木頭桌面、水泥地面等。 2.鉛罩和光闌：使用鉛罩和鉛光闌可以減小照射場范圍,從而在一定程度上減少散射線。 3.厚度補償物：在對厚度差較大的工件透照時,可采用厚度補償措施來減少散射線。焊縫照相可使用厚度補償塊。 4.濾板：在對厚度差較大的工件透照時,可以在射線窗口處加一金屬薄板,稱為濾板,濾板可將x射線束中波長較長的軟射線吸收掉,使透過射線波長均勻化,有效能量提高,從而

47、減少邊蝕散射。濾板可用黃銅、鉛或鋼制作。,46,RT探傷方法與應用,還有一些措施是專門用來控制散射線的,應根據(jù)經(jīng)濟、方便、有效的原則加以選用,這些措施包括: 5.遮蔽物：當被透照的試件小于膠片時,應使用遮蔽物對直接處于射線照射的那部分膠片進行遮蔽,以減少邊蝕散射。 6.修磨試件：通過修整,打磨的方法減小工件厚度差也可以視為減少散射線的一項措施。例如,檢查重要的焊縫時,將焊縫余高磨平后透照,可明顯減小散射比,獲

48、得更佳的照相質量。另外，對散射線的控制應進行背散射防護檢查 ，在暗盒背面貼附“B”鉛字標記。,47,RT工藝的編制與優(yōu)化,48,RT工藝的編制與優(yōu)化,1 透照工藝的分類和內容 1.1透照工藝的分類 射線透照工藝分通用工藝規(guī)程和專用工藝卡兩種,兩者都是必須遵循的規(guī)定性書面文件。通用工藝規(guī)程：根據(jù)本單位所有應檢產品的結構特點和射線檢測器材的現(xiàn)有條件,按法規(guī)、標準要求制定的技術規(guī)程或通則。

49、 通用工藝規(guī)程應有一定覆蓋性、通用性和可選擇性,主要內容有:a） 適用范圍； b） 引用標準、法規(guī)； c） 檢測人員資格； d） 檢測設備、器材和材料；,49,e） 檢測表面制備； f） 檢測時機； g） 檢測工藝和檢測技術； h） 檢測結果的評定和質量等級分類； i） 檢測記錄、報告和資料存檔。 j） 編制（級別）、審核（級別）和批準人

50、 ； k） 制定日期。 無損檢測通用工藝規(guī)程的編制、審核及批準應符合相關法規(guī)或標準的規(guī)定。,RT工藝的編制與優(yōu)化,50,專用工藝卡：是針對某一具體產品或產品上的某一部件,依據(jù)通用規(guī)程和圖樣要求,所特意制定的有關透照技術的細節(jié)和具體參數(shù)條件。 此卡應包括以下內容: a） 工藝卡編號； b） 產品名稱，產品編號，制造、安裝或檢驗編號，鍋爐、壓力容器及壓力管道的類別、規(guī)格尺寸、材料牌號、材質、熱

51、處理狀態(tài)及表面狀態(tài)； c） 檢測設備與器材：設備種類、型號、規(guī)格尺寸、檢測附件和檢測材料； d） 檢測工藝參數(shù)：檢測方法、檢測比例、檢測部位、標準試塊或標準試樣（片）；,RT工藝的編制與優(yōu)化,51,e） 檢測技術要求：執(zhí)行標準和驗收級別； f） 檢測程序； g） 檢測部位示意圖； h） 編制（級別）和審核（級別）人 ； i） 制定日期。 無損檢測工藝卡的編制

52、、審核應符合相關法規(guī)或標準的規(guī)定。（工藝卡無須批準）,RT工藝的編制與優(yōu)化,52,1.2專用工藝卡的形式① 儲氣罐②分氣包,RT工藝的編制與優(yōu)化,54,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.1一般縱縫、環(huán)縫的RT工藝編制要點 選定正確的透照方式； 當確定透照方式后，焦距較小時關注是否滿足最小焦距要求 ； 正確計算透照壁厚（余高考慮）； 所選

53、用的射線設備曝光曲線的正確使用（設備可承受的電壓最大值、雙壁單影的電壓確定 ）； 焦距變化時的曝光時間的確定； 像質計指數(shù)的確定； 根據(jù)膠片規(guī)格正確計算劃線分段數(shù)量； 計算一次透照長度; 總的攝片張數(shù)。,55,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.2變截面焊縫的RT工藝編制要點 工件本身的截面厚度不均勻的工件成為變截面工件，其

54、焊縫即為變截面焊縫； 當變截面的厚度比大于1.4時,可以為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件,以及不等厚板對接。 除“ 2.1”以外,在RT工藝編制時還應注意以下要點: 1.適當提高管電壓技術 。尤其是厚度變化比較小,且連續(xù)變化的對接焊縫。L增加， ΔD下降。 2.采用雙膠片技

55、術（異速、同速疊加）。 厚度變化不是較大。 3.補償技術。補償技術是指用補償塊、補償粉、補償泥、補償液等填補工作較薄部分 。 如何考慮選管電壓、曝光量、像質指數(shù)？,56,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.3橢圓封頭拼接焊縫的RT工藝編制要點除“ 2.1”以外,在RT工藝編制時還應注意以下要點:1.橢圓封頭拼接焊縫，成形后須對直邊及直邊與第一曲率半徑

56、r1的圓弧過渡區(qū),第一曲率半徑rl與第二曲率半徑r2的圓弧過渡區(qū)進行攝片。一般在封頭拼縫每端至少應拍2張片子。（因為避免透照距離、截面厚度在有效被檢區(qū)內變化不致過大）2.由于余高是磨平的,透照前要用石筆在封頭上劃出焊縫寬度、長度范圍,并在被檢區(qū)兩端貼附焊縫寬度識別標記。,57,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.4焊縫長度小于膠片長度時的RT工藝編制要點除“ 2.1”以外,在RT工藝編制時還應注意以下一個要點:

57、 必須采用同材質、同厚度的兩塊工裝板（屏蔽作用）夾在焊縫長度兩端。因為散射線“邊蝕”現(xiàn)象嚴重 。 如容器接管縱縫或大鍛件法蘭對接環(huán)縫。,58,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.5小徑管對接環(huán)縫的RT工藝編制要點。 1.透照方式為雙壁雙影； 2.確定是可采用橢圓成像[壁厚≤ 8mm，且 焊縫寬度≤管子外徑/4（mm）]，還是采用垂直透照重疊成像； 3.橢圓成像時

58、計算偏心距，以控制橢圓開口寬度在一倍焊縫寬度左右； 4.計算透照次數(shù)： ① 橢圓成像時當壁厚/外徑≤ 0.12時，透照2次（相隔90O）； 否則，透照3次（相隔120O或60O ） 。② 重疊成像時，垂直透照3次（相隔120O或60O ） 。 ③由于結構原因不能進行多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次，此時應采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。 5.注意像質

59、計指數(shù)值隨像質計的放置位不同而要求不一樣。（放源側還是膠片側，并做出標記）。,59,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.6多個工件一次透照的RT工藝編制要點。 1.周向透照布置射源置于圓心； 2. 常規(guī)透照布置工件布置平面的中心線上，中心射線束垂直指向透照區(qū)中心； 3. 各個工件之間加隔離鉛板，防止工件之間的散射線； 4.膠片暗合后面必須使用背面鉛板。

60、 5.透照的工件數(shù)量受到有效透照區(qū)的限制，即焦距的限制。,60,RT工藝的編制與優(yōu)化,2 RT工藝編制的要點 2.7球罐γ射線全景曝光的RT工藝編制要點 γ射線全景曝光是將射源置于球形容器中心，對等徑位置焊縫進行360O一次曝光成像的技術，用這種方法一次攝片可達數(shù)百至上千張，是一種效率很高、經(jīng)濟效益顯著的拍片方法。 1. γ源盡量選用活度較大的射源，使曝光時間控制在24小時之內，曝光時間過

61、長影響其他作業(yè)，灰霧度增加。 2.選用T2或T1類別的膠片，膠片規(guī)格選用360X100， 。 3. 劃線，應選擇在球殼板運抵現(xiàn)場且未組吊上去之前，內外面對應劃線。,61,2 RT工藝編制的要點 2.7球罐γ射線全景曝光的RT工藝編制要點 4.布片、收片、暗室處理均必須按編號順序進行。 5.曝光時間的計算（計算尺）、試驗片的摘取時間及間隔的確定。

62、 6.拍片死區(qū)的補拍（下極板拼縫、人孔接管對縫）。 7.夏季拍片注意高溫影響。 8.緊戒區(qū)大小的計算、作業(yè)人員的安全管理。,RT工藝的編制與優(yōu)化,62,RT工藝的編制與優(yōu)化,3 RT工藝編制的實例 3.1某鍋爐制造廠生產的電站鍋爐集箱如圖1所示，產品編號G2000-1，設計壓力P=4.3MPa，設計溫度t=336℃，材料12Cr1MoV，幾何尺寸見圖1。焊接方法為氬弧焊封

63、底，埋弧自動焊蓋面，焊縫余高2mm。現(xiàn)要求用Ir192γ射線機對B1焊縫進行射線檢測，請按JB4730（送審稿）的規(guī)定，編制如表1要求的焊縫《射線照相工藝卡》。Ir192的初始強度I0=50Ci，已使用100天，焦點尺寸3×3mm，曝光曲線見圖2。,63,RT工藝的編制與優(yōu)化(圖1 集箱示意圖),,64,RT工藝的編制與優(yōu)化(圖2 Ir192曝光曲線),,65,66,RT工藝的編制與優(yōu)化,照相等級AB驗收等級Ⅱ 檢

64、測時機焊后24hrs（因為材料12Cr1MoV ）膠片牌號天津Ⅴ（因為γ射線，T1或T2類，天津Ⅴ 屬T2 ）增感屏鉛0.1/ 0.1mm像質計型號Ⅲ (10-16),底片黑度≥ 2.0(不分X\ γ底片)顯影液配方天津配方顯影時間5min顯影溫度20+-2℃ 焊縫長度508X3.14=1595檢測比例100%透照厚度25mm,（按新JB4730）透照方式中心內透焦距508/2=25

65、4mm(最小L1≥10 ? d? b2/3= 10 ? 3? (25+2)2/3=270mm ,按新JB4730中心內透方式時,最小焦距可減50%,即135mm)一次透照長度1595mm(有人選320mm? )底片張數(shù)1595/320=4.98=5(張),(焊縫總長/膠片有效長度)源強度19.8Ci(A2=A1 ?(1/2)1/2= 50?(0.5)100/75=19.8)曝光時間1.36min(E2

66、=E1 ?(F2 / F1) 2= 150(查曲線)?[(508/2)/600]2=26.9)T=26.9/19.8=1.36,67,,RT工藝的編制與優(yōu)化,透照布置示意圖：（請用圖示畫出射線源、膠片、像質計、位置標記的擺放位置等）,,,,,,,,,,,,,,,,像質計,膠片,γ源,,,,,,,,,,,,,,,,,,,搭接標記,年月日,中心標記,工件號、焊縫號、片位號,像質計,F,68,RT工藝的編制與優(yōu)化,標記擺放及安全要求

67、：1、標記擺放要求：放置在距焊縫邊緣5mm以外的地方。2、由于像質計只能放在膠片側，故放“F”標記。像質計放置在被檢區(qū)域的1/4左右位置，金屬絲橫跨焊縫，細絲置于外側。 3、返修、擴探時必須加相應標記。4、安全要求：劃定警戒區(qū)域、懸掛警繩警燈、作業(yè)人員佩帶報警儀、投源和收源時通過報警儀進行監(jiān)測投收情況。工藝卡編制：RTⅡ、年月日 審核：RTⅢ 、年月日 Ⅲ。,69,RT工藝的編制與優(yōu)化---找問題（從下列現(xiàn)場

68、照片發(fā)現(xiàn)什么問題）,70,RT工藝的編制與優(yōu)化,3 RT工藝編制的實例 3.2一臺如圖3所示100M3液化氣臥式貯罐，該臥罐材質為16MnR，規(guī)格為Φ2200×24mm。至今已經(jīng)投用五年，現(xiàn)要求進行內外部檢驗,1、在用壓力容器內外部無損檢測應按哪些法規(guī)標準要求進行？,71,RT工藝的編制與優(yōu)化,1、在用壓力容器內外部無損檢測應按哪些法規(guī)標準要求進行？答： 壓力容器安全監(jiān)察規(guī)程 壓力容器定期檢驗規(guī)則

69、 JB4730-2005承壓設備無損檢測2、由于使用過程中充裝過硫化氫含量較高的液化氣，懷疑有應力腐蝕裂紋，最有效的是哪一種無損檢測方法？為什么？ 答：磁粉檢測是檢測應力腐蝕裂紋最有效的無損檢測方法。 因為應力腐蝕裂紋是一種表面裂紋（裂紋開口寬度很?。?，屬于表面缺陷。 檢測表面缺陷的無損檢測方法包括： 磁粉檢測、滲透檢測、渦流檢測，各自的特點是： 磁粉檢測適合