利用掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡觀察薄膜光電器件能級(jí)排布_第1頁(yè)
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1、利用掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡觀察薄膜光電器件能級(jí)排布,劉繼翀,唐峰,葉楓葉,陳琪,陳立桅,1 中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所國(guó)際實(shí)驗(yàn)室,中國(guó)科學(xué)院納米科學(xué)卓越中心,江蘇蘇州215123 2 中國(guó)科學(xué)院大學(xué),北京100049 3 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)化學(xué)系,合肥230026,掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡測(cè)量PMMA : PCBM混合界面層 34,物理化學(xué)學(xué)報(bào),2017,33(10),1934-1943.DOI:10.3866/PKU.WHXB2

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