地球物理勘探考題2013..

1、1電法勘探電法勘探的定義？電法勘探是以巖、礦石之間電學(xué)性質(zhì)的差異為基礎(chǔ)，通過(guò)觀測(cè)和研究與這些差異有關(guān)的電場(chǎng)或電磁場(chǎng)在空間或時(shí)間上的分布特點(diǎn)和變化規(guī)律，來(lái)查明地下地質(zhì)構(gòu)造和尋找地下電性不均勻體(巖溶、風(fēng)化層、滑坡體等)的一類(lèi)勘查地球物理方法。電法勘探的分類(lèi)？就場(chǎng)本身的性質(zhì)而言，可分為兩大類(lèi)，即傳導(dǎo)類(lèi)電法和感應(yīng)類(lèi)電法。傳導(dǎo)類(lèi)電法以各種直流電法為主，有電阻率法、充電法、自然電場(chǎng)法和激發(fā)極化法等。感應(yīng)類(lèi)電法則可分為電磁剖面法和電磁測(cè)深法。按工作

2、場(chǎng)地的不同，又可分為航空電法、地面電法、海洋電法和地下電法等，它們?cè)诜椒夹g(shù)上各有不同的特點(diǎn)。第一節(jié)電阻率法的基礎(chǔ)知識(shí)1、影響巖土介質(zhì)電阻率的因素有哪些？怎樣影響？自然狀態(tài)下，巖土介質(zhì)的電阻率除與介質(zhì)組分有關(guān)外，還與巖石的結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、孔隙度、濕度、礦化度及溫度等因素有關(guān)。介質(zhì)組分：一般來(lái)說(shuō)，當(dāng)巖石中良導(dǎo)性礦物的體積含量高時(shí)，其電阻率通常較低。相反，當(dāng)造巖礦物含量高時(shí)，巖石電阻率亦很高。結(jié)構(gòu)和構(gòu)造：在導(dǎo)電金屬礦物含量相同的條件下，巖石的結(jié)

3、構(gòu)起著重要的作用。浸染狀結(jié)構(gòu)巖石中良導(dǎo)性礦物被不導(dǎo)電礦物包圍，其電阻率要比良導(dǎo)性礦物彼此相連的細(xì)脈狀結(jié)構(gòu)巖石為高。如對(duì)含針、片狀礦物，沿層理方向（縱向）電阻率小于垂直層理方向（橫向）電阻率，兩個(gè)方向間存在各向異性。濕度：濕度對(duì)巖石的電阻率有很大的影響，這是因?yàn)樗碾娮杪瘦^小，含水巖石的電阻率遠(yuǎn)比干燥的巖石低。礦化度：礦化度越高，電阻率越低。溫度：溫度的變化直接影響著巖石的電阻率。這是因?yàn)?，溫度升高時(shí)，一方面巖石中水溶液的粘滯性減小，使溶

4、液中離子的遷移率增大。另一方面，又使溶液的溶解度增加，礦化度提高，所以巖石的電阻率通常隨溫度的升高而下降。2、請(qǐng)說(shuō)明電阻率是怎樣測(cè)定的？BNBMANAMK11112?????上式即為利用四極裝置測(cè)定電阻率的基本公式，即兩個(gè)供電電極之間測(cè)量一下電流，兩個(gè)測(cè)量電極之間測(cè)量一下電位差，根據(jù)四個(gè)電極之間的相對(duì)位置測(cè)量裝置系數(shù)(或排列系數(shù))，代入上式求取即可。3、研究電流密度隨深度的分布規(guī)律有怎樣的意義？影響探測(cè)深度的主要因素是什么？IUKMN?

5、???34、聯(lián)系“對(duì)稱(chēng)四極剖面法”方法的命名說(shuō)明“對(duì)稱(chēng)四極剖面法”的總體特征及主要適用范圍？對(duì)稱(chēng)四極剖面法，顧名思義，供電電極和測(cè)量電極分別相對(duì)于測(cè)量點(diǎn)對(duì)稱(chēng)，在觀測(cè)過(guò)程中，四個(gè)電極保持相對(duì)位置不動(dòng)，同時(shí)沿側(cè)線(xiàn)移動(dòng)。從場(chǎng)的特點(diǎn)看，對(duì)稱(chēng)四極剖面法是兩個(gè)異性點(diǎn)電流源的場(chǎng)，其位于供電電極的中部，故其正常場(chǎng)也是均勻場(chǎng)，且異常的特點(diǎn)與中間梯度法類(lèi)似。但由于在對(duì)稱(chēng)四極剖面中測(cè)量電極是與供電電極同時(shí)移動(dòng)的，故視電阻率曲線(xiàn)比中間梯度法復(fù)雜一些，生產(chǎn)效率也

6、低一些。因而，一般能用中間梯度法解決的問(wèn)題，就不用對(duì)稱(chēng)四極剖面法解決。即：對(duì)于尋找高阻巖脈，對(duì)稱(chēng)四極剖面法不如中間梯度法經(jīng)濟(jì)、效率高；對(duì)于探測(cè)良導(dǎo)薄脈，又不如聯(lián)合剖面法異常反映明顯。因此，對(duì)稱(chēng)四極剖面法一般不用于尋找薄脈狀地質(zhì)體，在工程、水文及環(huán)境地質(zhì)調(diào)查中多用于面積性測(cè)量，探測(cè)淺部基巖起伏，尋找構(gòu)造破碎帶，以及厚巖層等地質(zhì)填圖和普查工作，在合適的條件下，還可以圈定巖溶的分布范圍及追索古河道等，應(yīng)用較為廣泛。5、電阻率剖面法和電阻率測(cè)深

7、法有什么區(qū)別？電阻率剖面法是采用固定極距的電極排列，沿剖面線(xiàn)逐點(diǎn)供電和測(cè)量，觀察視電阻率的變化規(guī)律。由于電極距不變，勘探深度就保持在同一范圍內(nèi)。因而視電阻率沿剖面的變化可以把地下某一深度以上具有不同電阻率的地質(zhì)體沿剖面方向的分布情況反映出來(lái)。電阻率測(cè)深法是采用在同一測(cè)點(diǎn)上多次加大供電極距的方式，逐次測(cè)量視電阻率的變化，反映該測(cè)點(diǎn)下電阻率有差異的巖層或巖體在不同深度的分布狀況。6、聯(lián)合剖面法的兩條視電阻率與對(duì)稱(chēng)四極剖面法的視電阻率曲線(xiàn)有什

8、么關(guān)系？對(duì)稱(chēng)四極剖面法的視電阻率曲線(xiàn)是聯(lián)合剖面法兩條視電阻率曲線(xiàn)的平均。第三節(jié)電阻率測(cè)深法1、什么叫電阻率測(cè)深法？電阻率測(cè)深法亦可稱(chēng)為“電阻率垂向測(cè)深法”，或簡(jiǎn)稱(chēng)為“電測(cè)深法”。它是研究指定地點(diǎn)近于水平產(chǎn)狀的巖層沿鉛垂方向分布情況的電阻率法。在這類(lèi)方法中通常采用的是對(duì)稱(chēng)四極裝置。對(duì)地面上某一點(diǎn)進(jìn)行電測(cè)深法測(cè)量時(shí)，原則上保持測(cè)量電極距MN不變，而在同一測(cè)點(diǎn)使供電電極距AB按一定的規(guī)律不斷增大；每改變一次極距，即測(cè)定一次電位差和電流。當(dāng)AB