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文檔簡(jiǎn)介
1、概論概論回上層回上層1.1發(fā)展歷史磁粒檢驗(yàn)(MagicParticleTest)或稱為磁粉檢驗(yàn),簡(jiǎn)稱為MT,為一種非破壞檢驗(yàn)方法1928年末由AVDeFest首先使用,但由於效果不佳,並沒(méi)有引起廣泛的注意,直到1934年美國(guó)Magnaflux公司從事有關(guān)磁粒的研究以及交流電之應(yīng)用,磁粒檢驗(yàn)才又重新受到大眾的注目。I930至I940這十年間可算是磁粒檢驗(yàn)蓬勃發(fā)展的階段,至今仍廣受使用。目前,磁粒檢驗(yàn)已進(jìn)入自動(dòng)化的時(shí)代了,由於磁粒的改善加上
2、電腦的配合使用,使得檢驗(yàn)人員只要坐在控制室內(nèi)接鈕接可獲得永久性記錄的檢驗(yàn)結(jié)果。1.2簡(jiǎn)介磁粒檢驗(yàn)係藉由磁力線在物件內(nèi)分佈的情況,吸引表面磁粒(MagicParticle)形成顯示(Indication),能迅速、有效地檢驗(yàn)物件表面及次表面瑕疵,其原理非常簡(jiǎn)單,並不需要高深的學(xué)問(wèn)與技術(shù),檢驗(yàn)結(jié)果又能直接顯示在物件的表面,易為一般人所接受和學(xué)習(xí),設(shè)備和花費(fèi)均少。磁粒檢驗(yàn)是一種相當(dāng)簡(jiǎn)單又容易操作的檢驗(yàn)方法,可應(yīng)用於不同階段的製造或加工過(guò)程中,
3、通常分為下列四個(gè)主要步驟:1.檢驗(yàn)前,被檢物表面需充分清潔、乾淨(jìng),不得有鬆脫之銹皮、油污或其他雜質(zhì)。2.對(duì)被檢物施加適當(dāng)方向和強(qiáng)度的磁場(chǎng)。3.將磁粒均勻散佈於被檢物表面上。4.觀察磁粒分佈情況並加以判別及評(píng)估。1.3磁粒檢驗(yàn)之目的磁粒檢驗(yàn)的功能主要是藉由磁粒的分佈情形瞭解物件有無(wú)瑕疵,其目的在於確保產(chǎn)品的可靠性,它能提供:1.在被檢物表面形成可見(jiàn)的瑕疵顯示。2.在不破壞被檢物的情況下,得知瑕疵的特性。3.可依據(jù)預(yù)先制定的規(guī)範(fàn)或標(biāo)準(zhǔn),分辨
4、可接受或剔退的物件。瞭解檢驗(yàn)的目的,才能評(píng)定其檢驗(yàn)步驟和結(jié)果,而整個(gè)檢驗(yàn)過(guò)程才可算是完成。(6)可以檢測(cè)為異物所填塞的瑕疵。(7)經(jīng)濟(jì)而且表面清潔度要求不高。(8)物件表面之薄層鍍膜或油漆不致影響檢驗(yàn)結(jié)果。(9)適合於生產(chǎn)線上自動(dòng)化檢驗(yàn)。1.5.2缺點(diǎn)雖然磁粒檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)很多,然而和其他方法一樣也有一些缺點(diǎn),如下:(1)只適合於鐵磁性材料的檢驗(yàn),其他材料便無(wú)能為力。(2)並非所有鐵磁性材料均有很好的次表面瑕疵檢驗(yàn)效果。(3)磁力線必須和瑕
5、疵方向垂直才有最佳的檢測(cè)靈敏度,所以檢驗(yàn)前必須熟識(shí)磁力的流向?qū)缎螤钶^複雜的物件,必須多方向的磁化,才能確認(rèn)檢驗(yàn)的效用。(4)使用接觸棒磁化法時(shí)“,應(yīng)避免接觸不良或使用過(guò)大的電流,以免引起電弧及損害到試件表面。(5)對(duì)於大量小型物件,通常需要各別磁化,費(fèi)時(shí)費(fèi)事。1.6與其他方法之比較對(duì)於鐵磁性材料的表面及次表面瑕疵,尚有其他四種主要的非破壞檢驗(yàn)方法可用來(lái)檢驗(yàn)然而在決定選用何種方法之前,檢驗(yàn)者必須先瞭解各種方法的優(yōu)缺點(diǎn),以試件最適當(dāng)?shù)倪x擇
6、。1.6.1與放射線照相檢驗(yàn)之比較對(duì)於絕大多數(shù)約吹表面瑕疵,放射線照相檢驗(yàn)優(yōu)於磁粒檢驗(yàn),但是對(duì)於表面上的瑕疵,則磁粒檢驗(yàn)要優(yōu)於放射線照相檢驗(yàn)。磁粒檢驗(yàn)不但有較快的檢驗(yàn)速度,而且費(fèi)用又省,特別是當(dāng)數(shù)量多又100%檢驗(yàn)的時(shí)候,其檢驗(yàn)結(jié)果能立即顯示。另外,磁粒檢驗(yàn)受物件形狀的影響也較小。1.6.2與液滲檢驗(yàn)之比較假如物件表面的裂縫是乾淨(jìng)又不為外來(lái)雜質(zhì)所填塞時(shí),液滲檢驗(yàn)和磁粒檢驗(yàn)有相同的檢驗(yàn)效果然而液滲檢驗(yàn)對(duì)於物件表面清潔度的要求較高,而且檢驗(yàn)
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