版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)
文檔簡介
1、SDY4型四探針測試儀作業(yè)指導(dǎo)書共8頁第1頁只有加蓋紅色受控章的,或頒布于公司局域網(wǎng)指定目錄的文件,才是有效的。請使用有效版本。SDY4型四探針測試儀作業(yè)指導(dǎo)書1.0版本Rev.編寫人Preparedby編寫日期PreparedDate審核人Checkedby審核時間CheckedDate批準人Approvedby批準日期ApprovedDateSDY4型四探針測試儀作業(yè)指導(dǎo)書共8頁第3頁只有加蓋紅色受控章的,或頒布于公司局域網(wǎng)指定目錄
2、的文件,才是有效的。請使用有效版本。版本:1.01.1.目的:目的:規(guī)范四探針測試儀的操作與維修保養(yǎng)工作。2.2.范圍范圍:適用于車間內(nèi)四探針測試儀的操作與維修保養(yǎng)工作。3.3.職責:職責:3.1負責擴散后方塊電阻的測試。3.2規(guī)范操作,為測試數(shù)據(jù)規(guī)范化提供依據(jù)。3.3負責發(fā)現(xiàn)擴散后硅片質(zhì)量、工藝異常狀況時的反映。4名詞定義:名詞定義:4.1SDY4型四探針測試儀5.5.內(nèi)容內(nèi)容:5.1儀器介紹:SDY4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測
3、試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設(shè)計的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試專用儀器.儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件采用平面輕觸式開關(guān)控制及各種工作狀態(tài)LED指示.應(yīng)用微計算機技術(shù),利用HQ-710E型測量數(shù)據(jù)處理器,使得測量讀數(shù)更加直觀、快速,整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。本儀器可滿足半導(dǎo)體材料、器件的研究生產(chǎn)單位對材料(棒材、片材)電阻率及擴散層、離子注入層、異型外延層和導(dǎo)電薄膜方塊
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 數(shù)字扭力測試儀器作業(yè)指導(dǎo)書1
- 測色儀作業(yè)指導(dǎo)書
- 測量作業(yè)指導(dǎo)書--施工作業(yè)指導(dǎo)書
- 自動量熱儀作業(yè)指導(dǎo)書
- 作業(yè)指導(dǎo)書
- 鹽務(wù)測試作業(yè)指導(dǎo)書
- 各種儀表作業(yè)指導(dǎo)書作業(yè)指導(dǎo)書大全
- 作業(yè)指導(dǎo)書
- 扭力測試作業(yè)指導(dǎo)書027
- hse作業(yè)指導(dǎo)書
- 卡尺作業(yè)指導(dǎo)書
- 噴涂作業(yè)指導(dǎo)書
- 打磨作業(yè)指導(dǎo)書
- 木門作業(yè)指導(dǎo)書
- 外觀作業(yè)指導(dǎo)書
- pt作業(yè)指導(dǎo)書
- 涵洞作業(yè)指導(dǎo)書
- 粉碎作業(yè)指導(dǎo)書
- 測量作業(yè)指導(dǎo)書
- 配料作業(yè)指導(dǎo)書
評論
0/150
提交評論