Lr37、Lr44AFLP分子標(biāo)記及124個(gè)小麥品種（系）抗葉銹基因鑒定.pdf

1、由小麥葉銹菌(Puccinia recondita f.sp. tirtici)引起的小麥銹病是影響世界小麥穩(wěn)產(chǎn)高產(chǎn)的重要病害之一.也是影響我國(guó)小麥生產(chǎn)的重要因素.分子標(biāo)記可以在更深層次上提示小殫抗銹遺傳機(jī)制,通過(guò)找到抗銹基因或與抗犭基因緊密連鎖的分子標(biāo)記,不但能在遺傳背景不同的育種材料中特異性地檢測(cè)目的基因,而且抗病基因的篩選不受生長(zhǎng)階段的影響.為了解抗原和抗病品種中所含抗性基因提供了更為迅速、穩(wěn)定、可靠的方法,同時(shí)也為多基因的聚合成

2、為可能奠定了基礎(chǔ).近年來(lái),分子標(biāo)記方法與技術(shù)得到了迅速發(fā)展.分子標(biāo)記技術(shù)越來(lái)越多的應(yīng)用于作物種質(zhì)資源和育種研究,特別在構(gòu)建分子遺傳圖譜和標(biāo)記目的性狀基因方面取得了很大進(jìn)展.至今在已發(fā)現(xiàn)的近90個(gè)抗葉銹基因中.目前,我國(guó)在小麥抗葉銹基因的分子遺傳領(lǐng)域的研究處于起步階段,中國(guó)農(nóng)業(yè)科學(xué)院植保所、中國(guó)農(nóng)業(yè)大學(xué)及河北農(nóng)業(yè)大學(xué)等在該方面利用RAPD和RFLP、ISSR、SSR技術(shù)進(jìn)行了一些研究,取得了一定進(jìn)展.但用AFLP技術(shù)標(biāo)記小麥葉銹抗性基因,

3、進(jìn)行小麥抗葉銹近等基因系指紋圖譜研究國(guó)內(nèi)外尚無(wú)報(bào)道,對(duì)Lr37、Lr44的AFLP標(biāo)記國(guó)內(nèi)外尚無(wú)人報(bào)道.Lr44是抗性很強(qiáng)的抗病基因,是一個(gè)應(yīng)用潛力很大的抗病基因;Lr37是小麥中發(fā)現(xiàn)的成株抗病基因.這兩個(gè)基因在生產(chǎn)中應(yīng)用對(duì)于小麥銹病的有效防治十分有益.由于上述抗病基因尚未被克隆,影響了對(duì)抗病機(jī)制的了解,同時(shí)也影響到有益基因的合理應(yīng)用.本研究擬采用AFLP技術(shù)構(gòu)建小麥抗葉銹近等基因系的指紋圖譜,標(biāo)記Lr37、Lr44基因,尋求與目的基因