電子直線加速器有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量方法研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描成像技術(shù)（ICT）因其能夠清晰、準(zhǔn)確的再現(xiàn)被測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而被譽(yù)為當(dāng)今工業(yè)界最佳的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。電子直線加速器具有出束能量高、穿透力強(qiáng)等特點(diǎn)，被廣泛用作高能工業(yè)CT的射線源系統(tǒng)。有效焦點(diǎn)尺寸是電子直線加速器的關(guān)鍵性能指標(biāo)，亦直接影響到工業(yè)CT成像的空間分辨率和圖像不清晰度。因此，研制高能工業(yè)CT系統(tǒng)時(shí)有必要準(zhǔn)確掌握電子直線加速器的有效焦點(diǎn)尺寸。
　　目前射線源有效焦點(diǎn)尺寸傳統(tǒng)測(cè)量方法有掃描法、針孔法、“三明治

2、”法等，但這些方法或者不適用于電子直線加速器有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量，或者測(cè)量過(guò)程易受人員主觀因素干擾、測(cè)量結(jié)果重復(fù)性差等不足。對(duì)此，論文分析電子直線加速器有效焦點(diǎn)尺寸對(duì)工業(yè)CT成像質(zhì)量的影響。結(jié)合工業(yè)CT探測(cè)掃描特點(diǎn)，研究提出垂直掃描法、平行掃描法和夾角平移法三種客觀、量化、易于實(shí)現(xiàn)的電子直線加速器有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量方法，依次給出三種測(cè)量方法的測(cè)量要求及詳細(xì)測(cè)量步驟，并比較三種測(cè)量方法的優(yōu)缺點(diǎn)。
　　為實(shí)現(xiàn)論文提出的測(cè)量方法，研制電子直線

3、加速器有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x。根據(jù)性能需求，分析研究有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x的系統(tǒng)架構(gòu)。為滿足高能 X射線探測(cè)采集任務(wù)，研究設(shè)計(jì)有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x探測(cè)采集系統(tǒng)方案，完成了探測(cè)采集系統(tǒng)硬件電路及控制邏輯實(shí)現(xiàn)。為滿足有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x控制任務(wù)，研究設(shè)計(jì)控制系統(tǒng)方案，完成了控制系統(tǒng)主控板的硬件電路和控制邏輯實(shí)現(xiàn)。之后分別進(jìn)行了測(cè)量?jī)x的探測(cè)采集系統(tǒng)調(diào)試、控制系統(tǒng)調(diào)試和聯(lián)機(jī)調(diào)試。測(cè)試結(jié)果表明，有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量?jī)x具有較高的可靠性和測(cè)量精度，能夠滿足電子直線加