面向SoC的事務(wù)級驗(yàn)證研究.pdf

1、近幾年來隨著專用集成電路ASIC(Application Specific Integrated Circuit)的迅速發(fā)展和系統(tǒng)芯片SoC(System on a Chip)復(fù)雜度的不斷提高，芯片驗(yàn)證，尤其是功能驗(yàn)證日益成為電子產(chǎn)品開發(fā)和設(shè)計(jì)的瓶頸。驗(yàn)證做為芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域中最困難和最具挑戰(zhàn)性的課題之一，它貫穿了芯片設(shè)計(jì)的整個流程，是芯片設(shè)計(jì)過程中發(fā)現(xiàn)概念和功能上錯誤的唯一手段。在SoC設(shè)計(jì)中，IP(Intelligent Propert

2、y)重用設(shè)計(jì)方法學(xué)和大量新設(shè)計(jì)技術(shù)的采用，對傳統(tǒng)功能驗(yàn)證方法提出了新的挑戰(zhàn)。如何快速的驗(yàn)證這些IP模塊和整個系統(tǒng)已成為系統(tǒng)芯片驗(yàn)證的難點(diǎn)和熱點(diǎn)。 大量實(shí)踐證明，基于事務(wù)的驗(yàn)證重用方法學(xué)是提高功能驗(yàn)證效率最有效的方法之一。本論文描述了對SoC進(jìn)行事務(wù)驗(yàn)證的一般流程和設(shè)計(jì)方法；在驗(yàn)證方法學(xué)和重用方法學(xué)基礎(chǔ)上，提出了采用SystemC和SCV驗(yàn)證庫來創(chuàng)建模塊化事務(wù)級驗(yàn)證平臺的設(shè)計(jì)方法，方便了驗(yàn)證平臺的重用，提高了驗(yàn)證的效率；分析了兩

3、種總線功能模型的實(shí)現(xiàn)方式；引入隨機(jī)測試的理論，根據(jù)SCV驗(yàn)證庫的隨機(jī)機(jī)制給出了三種隨機(jī)測試向量的生成方法；在討論監(jiān)視器可重用設(shè)計(jì)規(guī)則的基礎(chǔ)上，提出了一種監(jiān)視器的設(shè)計(jì)方法，采取對物理信號的監(jiān)測和數(shù)據(jù)的接收分離開來，加快了驗(yàn)證的調(diào)試過程。 最后討論了驗(yàn)證平臺的組織結(jié)構(gòu)，通過對4×4Packet Switch模型進(jìn)行一系列的驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，完成了對驗(yàn)證對象的功能驗(yàn)證，證實(shí)了模塊化事務(wù)級驗(yàn)證方法是可行的。結(jié)果表明，使用此模塊化的驗(yàn)證平臺有效地