PASS技術(shù)治療安氏Ⅰ類上頜尖牙唇向低位.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目的:探討運(yùn)用PASS矯治技術(shù)治療安氏Ⅰ類上頜尖牙唇向低位的錯(牙合)畸形矯治前后磨牙支抗的控制情況。
  方法:選取大連市奧索口腔醫(yī)療有限公司金州門診部2013年7月收治的安氏Ⅰ類上頜尖牙唇向低位錯(牙合)畸形的女性患者一例,年齡11周歲,漢族。面部左右基本對稱,直面型,左、右側(cè)磨牙中性關(guān)系,上頜擁擠10mm,下頜擁擠6mm,13、23唇向低位。使用Ortho Technology(OT) Sensation托槽結(jié)合PASS矯治

2、技術(shù)采取減數(shù)4顆第一雙尖牙的矯治計劃對該病例進(jìn)行治療。
  結(jié)果:經(jīng)過14個月的矯治療程,患者牙列排列整齊,磨牙及尖牙Ⅰ類關(guān)系,覆(牙合)、覆蓋正常,側(cè)貌良好。將患者矯治前后的頭顱側(cè)位片進(jìn)行結(jié)構(gòu)重疊,顱底重疊可見:上下頜骨無明顯旋轉(zhuǎn),垂直向控制良好。并進(jìn)行草杷分析定量的發(fā)現(xiàn)上磨牙近中移動2.5mm,下磨牙近中移動2mm,均小于拔牙間隙的1/4,達(dá)到了強(qiáng)支抗控制的效果,因此上下磨牙在治療過程中支抗均控制良好。又通過對三維數(shù)字化模型重

3、疊分析,可以直觀的發(fā)現(xiàn),經(jīng)過矯治:上、下磨牙近中移動,略微后傾,但移動量均未超過拔牙間隙的1/4,進(jìn)一步說明上下磨牙的支抗控制良好。另外將矯治前后的X線頭影測量進(jìn)行對比我們還發(fā)現(xiàn):FMA無明顯變化,提示垂直向控制良好;Z角增加3°,提示側(cè)貌良好。矯治后的全口曲面斷層片效果如下:牙根平行,未見明顯吸收,牙周組織未見異常。
  結(jié)論:對于安氏Ⅰ類上頜尖牙唇向低位錯(牙合)畸形的患者,運(yùn)用PASS矯治技術(shù),既可以有效的控制傳統(tǒng)頰管引起的

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