基于粒子群算法和螞蟻算法的瞬態(tài)電流測試生成研究.pdf

1、隨著微電子技術的迅猛發(fā)展，VLSI的集成度和復雜度不斷提高，給現(xiàn)有的測試技術和測試儀器帶來了嚴峻的挑戰(zhàn)。 20世紀80年代初，人們提出了測量CMOS電路穩(wěn)態(tài)電流（IDDQ）的方法?；陔娏鞯腎DDQ測試方法與CMOS電路有很好的兼容性，它可檢測出電壓測試方法不能檢測的故障和物理缺陷，目前已成為一種廣為接受的重要的CMOS數(shù)字集成電路的測試方法。 90年代中期，人們又提出了瞬態(tài)電流測試（IDDT Testing）的概念，企

2、圖通過觀察和分析電路在其內(nèi)部狀態(tài)發(fā)生變化時所產(chǎn)生的瞬態(tài)電流，來發(fā)現(xiàn)某些不能被其它測試方法發(fā)現(xiàn)的故障。這種方法作為傳統(tǒng)測試方法的一個補充，正逐步受到研究領域和工業(yè)領域的關注和研究。 在瞬態(tài)電流測試過程中，核心問題是確定施加什么樣的激勵，可以在任何情況下確保激活故障，同時又能使測量儀器測量出來。自動測試向量生成（ATPG）所要解決的問題就是自動推導出被測電路的測試激勵。 瞬態(tài)電流測試向量的產(chǎn)生需要一次產(chǎn)生兩個或兩個以上向量

3、。其測試向量產(chǎn)生比較復雜，尋找高效的測試向量產(chǎn)生算法對提高測試效率具有重要意義。本文重點對瞬態(tài)電流測試生成算法進行研究。從開路故障的激活條件入手，利用粒子群算法和螞蟻算法來生成瞬態(tài)電流測試向量，并通過波形模擬器進行模擬測試，測試結果驗證了算法的有效性。在瞬態(tài)電流測試中，粒子群算法將故障定義為粒子要搜尋的食物，粒子的位置定義為測試向量。螞蟻算法將故障定義為螞蟻要搜索的食物，將搜索路徑定義為測試向量。 針對瞬態(tài)電流測試的可行性，將兩