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文檔簡介
1、平面近場測量是相控陣天線的重要測試方法,它主要完成相控陣天線的近場補相、近場測試、近場診斷等功能。平面近場測量系統(tǒng)一般由掃描架、微波測試儀表、伺服控制設(shè)備、近場測試軟件、測試探頭等組成。 影響天線平面近場測量精度的誤差因素涉及多方面,自Newell提出天線平面近場測量18項誤差源后,按其產(chǎn)生的原因可分為四個方面:理論計算式及數(shù)值計算所產(chǎn)生的誤差、測試儀表及設(shè)備產(chǎn)生的誤差、環(huán)境產(chǎn)生的誤差以及探頭天線所產(chǎn)生的誤差。本文從工程的角度出
2、發(fā),分析對平面近場測量精度影響最大的幾項誤差源,并給出了工程上可行的解決辦法。 測試探頭是近場測量的重要組成部分。無論是近場還是源場測試,都要使它對待測天線場的影響盡可能小,這就對探頭的設(shè)計提出了高要求。本文重點討論了探頭設(shè)計中的平衡饋電和阻抗匹配問題,闡述了工程應(yīng)用上應(yīng)注意的方面和部分可行的方法。 針對某型相控陣天線的批產(chǎn)需求,研究了相控陣天線近場的發(fā)射配相、差波瓣、測試與零深計算以及大采樣間距等問題,給出了解決這些問
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