硅材料抗輻射能力噪聲評價技術(shù)研究.pdf

1、硅材料是當(dāng)今最主要的微電子和光伏材料，硅太陽能電池更是應(yīng)用衛(wèi)星和太空裝置最重要的持續(xù)，潔凈的動力供應(yīng)源。因此，通過研究硅材料抗輻射能力來提高輻射環(huán)境下器件性能是具有實際意義的。
　　 噪聲與材料和電子器件的缺陷密切相關(guān)，且表征參量豐富，可以為硅材料和硅基器件抗輻射能力研究提供一套靈敏，無損，通用，完備，可靠性高的評價技術(shù)。本文根據(jù)現(xiàn)有硅材料工藝和應(yīng)用，研究硅材料抗輻射性能噪聲評價技術(shù)，主要工作有：
　　 設(shè)計硅材料測試結(jié)

2、構(gòu)并外購?fù)ㄓ霉鑶谓Y(jié)晶體管和硅光電池器件，有目的的設(shè)計合理的60Coγ射線輻照實驗方案，進(jìn)行輻照實驗。測試并對比分析樣品輻照前后的電學(xué)和噪聲測試數(shù)據(jù)，使結(jié)果更具有實際指導(dǎo)意義。本文在研究硅材料和硅光電池性能退化的輻射損傷機(jī)制及噪聲檢測理論基礎(chǔ)上，結(jié)合實驗結(jié)果優(yōu)選出可全面評價硅材料和硅光電池抗輻射性能的噪聲參量。同時，深入研究硅材料和硅光電池抗輻射能力噪聲評價理論，提出硅材料和硅光電池抗輻射能力噪聲無損評價技術(shù)，包括參數(shù)提取，評價標(biāo)準(zhǔn)和流程