雙容錯磁盤陣列校驗散布布局問題的研究.pdf

1、磁盤陣列(RAID)作為一種提高存儲子系統(tǒng)可靠性和性能的技術(shù)，已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。特別是近些年來存儲系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)化、規(guī)?；劝l(fā)展趨勢，使多容錯編碼變得更加重要。 在陣列系統(tǒng)的一些應(yīng)用領(lǐng)域，比如機票預(yù)售、銀行自動提款機等在線事務(wù)處理系統(tǒng)，要求提供的數(shù)據(jù)服務(wù)必須是連續(xù)可用的，這對存儲子系統(tǒng)的性能和可靠性提出了很高的要求。但是像RAID這類的存儲子系統(tǒng)在磁盤出現(xiàn)故障的情況下，性能是非常低的，校驗散布布局技術(shù)就是通過校驗條紋的散布，將重構(gòu)

2、負載均勻分布，提高了系統(tǒng)的可用性和可靠性。 目前對雙容錯磁盤陣列校驗散布布局的研究還很少，因此本文主要對RAID6的校驗散布數(shù)據(jù)布局進行了研究。現(xiàn)有的一些校驗散布布局方法對參數(shù)都有所限制，所以本文主要采用隨機排列布局方式，在此基礎(chǔ)上，用現(xiàn)代優(yōu)化算法——模擬退火算法，對其進行優(yōu)化，并編程實現(xiàn)該算法，詳細地比較了優(yōu)化后的數(shù)據(jù)布局和最優(yōu)布局的偏差，實驗表明了它非常接近于理論最優(yōu)布局。最后在Disksim上進行仿真的實驗，從對用戶請求的